2月13日(金) 午前 高信頼化設計
座長: 吉村正義（京都産大）
10:00 - 11:15 |
| (1) |
10:00-10:25 |
Studies on FPGA Rejuvenation |
○Aromhack Saysanasongkham・Satoshi Fukumoto（Tokyo Metropolitan Univ.） |
| (2) |
10:25-10:50 |
閾値変更に基づくMLC PCMの高信頼化手法に関する一考察 |
○中野伸哉・新井雅之（日大） |
| (3) |
10:50-11:15 |
近似論理に基づく高信頼設計手法の評価に関する一考察 |
○齋藤晴樹・新井雅之（日大） |
| |
11:15-11:30 |
休憩 （ 15分 ） |
2月13日(金) 午前 セキュリティとテスト
座長: 新井雅之（日大）
11:30 - 12:20 |
| (4) |
11:30-11:55 |
信号非遷移情報に基づくトロイ回路検出法 |
○坊屋鋪知拓・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） |
| (5) |
11:55-12:20 |
スキャンベース攻撃を考慮した暗号LSIのテスト手法 |
○吉村正義（京都産大）・西間木 淳・細川利典（日大） |
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12:20-13:45 |
昼食 （ 85分 ） |
2月13日(金) 午後 特別講演
座長: 細川利典（日大）
13:45 - 14:40 |
| (6) |
13:45-14:40 |
International Test Conference 2014 報告 |
○ITC アジア委員会（ITCアジア委） |
| |
14:40-14:55 |
休憩 （ 15分 ） |
2月13日(金) 午後 階層テスト
座長: 樋上喜信（愛媛大）
14:55 - 15:45 |
| (7) |
14:55-15:20 |
階層テスト容易化高位合成におけるスケジューリングの一手法 |
○西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） |
| (8) |
15:20-15:45 |
階層BIST向けLFSRシード生成法 |
○佐脇光亮・大竹哲史（大分大） |
| |
15:45-16:00 |
休憩 （ 15分 ） |
2月13日(金) 午後 故障診断
座長: 大竹哲史（大分大）
16:00 - 16:50 |
| (9) |
16:00-16:25 |
マルチサイクルキャプチャテスト集合を用いた単一論理故障の故障診断法の評価 |
○高野秀之・山崎紘史・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） |
| (10) |
16:25-16:50 |
IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法 |
○王 森レイ・井上大画・ハナン ティ アル アワディー・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） |
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