2月15日(月) 午前 Iddqテスト・温度均一化
座長: 吉村正義（九大）
09:00 - 09:50 |
| (1) |
09:00-09:25 |
統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出 |
○中村芳行・田中正史（NECエレクトロニクス） |
| (2) |
09:25-09:50 |
テスト実行時の温度均一化のためのテストパターン並び替え法 |
○中尾 良・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） |
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09:50-10:00 |
休憩 （ 10分 ） |
2月15日(月) 午前 テスト生成
座長: 宮瀬紘平（九工大）
10:00 - 10:50 |
| (3) |
10:00-10:25 |
マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析 |
○小河宏志・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） |
| (4) |
10:25-10:50 |
抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について |
○高橋 寛・樋上喜信・首藤祐太・高棟佑司・高松雄三（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） |
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10:50-11:00 |
休憩 （ 10分 ） |
2月15日(月) 午前 高位レベルテスト・検証
座長: 井上美智子（奈良先端大）
11:00 - 11:50 |
| (5) |
11:00-11:25 |
A Method of Reproducing Iuput/Ouput Error Trace on High-level Design for Hardware Debug Support |
○Yeonbok Lee・Tasuku Nishihara・Takeshi Matsumoto（Univ. of Tokyo.）・Masahiro Fujita（Univ. of Tokyo./JST） |
| (6) |
11:25-11:50 |
演算器順序深度削減指向テスト容易化バインディング法 |
○長 孝昭・細川利典（日大） |
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11:50-13:20 |
昼食 （ 90分 ） |
2月15日(月) 午後 遅延故障テスト
座長: 井上智生（広島市大）
13:20 - 15:00 |
| (7) |
13:20-13:45 |
差分による遅延測定法の実行時間と面積の削減 |
○田辺 融・湊 浩久・加藤健太郎・難波一輝・伊藤秀男（千葉大） |
| (8) |
13:45-14:10 |
遷移故障テスト圧縮指向制御ポイント挿入法 |
○湯本仁高・細川利典（日大）・吉村正義（九大） |
| (9) |
14:10-14:35 |
3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について |
奥 慎治・○梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青（九工大/JTS） |
| (10) |
14:35-15:00 |
BISTにおける高品質遅延故障テストのためのシード選択法 |
○竹谷 啓・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） |
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15:00-15:15 |
休憩 （ 15分 ） |
2月15日(月) 午後 故障モデル・故障許容・故障診断
座長: 細川利典（日大）
15:15 - 16:30 |
| (11) |
15:15-15:40 |
ディジタルフィルタにおける故障の許容性に関する考察 |
○宮口拓己・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） |
| (12) |
15:40-16:05 |
部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化 |
○宮瀬紘平（九工大）・中村優介（パナソニックCCソフト）・大和勇太・温 暁青・梶原誠司（九工大） |
| (13) |
16:05-16:30 |
TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討 |
堤 利幸・○刈谷泰由紀・山崎浩二（明大）・橋爪正樹・四柳浩之（徳島大）・高橋 寛・樋上喜信・高松雄三（愛媛大） |
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