6月21日(金) 午後 座長: 中湖 貴久(ルネサスエレクトロニクス) 13:45 - 15:15 |
(1) |
13:45-14:15 |
データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法 |
○兒玉雄佑・西間木 淳・増田哲也・細川利典(日大)・藤原秀雄(阪学院大) |
(2) |
14:15-14:45 |
制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法 |
○森保孝憲・大竹哲史(大分大) |
(3) |
14:45-15:15 |
フィールドにおけるLSI劣化テストの可能性に関する一考察 |
○佐藤康夫・梶原誠司(九工大) |
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15:15-15:30 |
休憩 ( 15分 ) |
6月21日(金) 午後 座長: 浜田 周治(富士通セミコンダクター) 15:30 - 17:00 |
(4) |
15:30-16:00 |
インタラクションテストにおける故障ペアを特定可能なテストケース集合生成方法の提案 |
○永元雄宙・小島英春・土屋達弘(阪大) |
(5) |
16:00-16:30 |
バウンダリスキャンと組み込み再構成可能ハードウェアを用いたSOCのオンラインインターコネクトテスト法 |
○加藤健太郎(鶴岡高専) |
(6) |
16:30-17:00 |
リング発振器を用いたトランジスタの劣化推定法 |
○池田龍史・三浦幸也(首都大東京) |