2月18日(火) 午前 論理関数処理技術応用・アルゴリズム
座長: 市原英行（広島市大）
10:30 - 11:45 |
| (1) |
10:30-10:55 |
領域ベースの手法およびTurn Modelに基づくメッシュ網の耐故障適応ルーティングアルゴリズム |
○三浦康之・深瀬尚久（湘南工科大）・中尾司ピエール（北陸先端大） |
| (2) |
10:55-11:20 |
制御信号のドントケア割当てに基づく診断容易化設計のためのヒューリスティックアルゴリズム |
○大塚裕衣・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・吉村正義（京都産大） |
| (3) |
11:20-11:45 |
2分決定グラフを用いた確率フォールトツリー解析における変数順序付けによる性能への影響の評価 |
○宇都宮壮一・土屋達弘（阪大） |
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休憩 |
2月18日(火) 午後 ニューラルネットワークを用いたテスト及び故障解析技術
座長: 細川利典（日大）
13:15 - 14:30 |
| (4) |
13:15-13:40 |
Reliable Memristor-Based Neural Networks with Fault-Injected Training |
○Md. Sihabul Islam・Ryota Eguchi・Michiko Inoue（NAIST） |
| (5) |
13:40-14:05 |
深層強化学習を用いたテストポイント挿入法に対する特徴解析 |
○佐々木翔也・井手秋孝・王 森レイ・甲斐 博・高橋 寛（愛媛大） |
| (6) |
14:05-14:30 |
ウェハマップ欠陥パターン分類精度向上のための自己訓練および超解像度化手法の適用 |
○黒川 潤・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） |
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休憩 |
2月18日(火) 午後 耐故障設計・オンラインテスト
座長: 土屋達弘（阪大）
14:40 - 15:55 |
| (7) |
14:40-15:05 |
ハードエラー耐性を考慮した高位合成の一手法 |
○野間旭媛・大竹哲史（大分大） |
| (8) |
15:05-15:30 |
A C-Element-Based Latch Design for Flip-Flops with Complete SNU and Partial DNU Tolerance and Enhanced Soft Error Resilience Around Clock Edges |
○Song Wang・Kazuteru Namba（Chiba Univ） |
| (9) |
15:30-15:55 |
楽観推定フィールドランダムテスタビリティ向上のための状態信号系列生成手法 |
○廣瀬恭介・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） |
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休憩 |
2月18日(火) 午後 テスト生成・低消費電力設計
座長: 三浦康之（湘南工大）
16:05 - 16:30 |
| (10) |
16:05-16:30 |
ウェアラブル機器に向けた低電源電圧OTAを用いた低消費電力ΔΣ変調器とその実測による評価 |
○丸山尚哉・小松 聡（東京電機大） |
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