2月28日(水) 午前 低消費電力・耐故障設計
座長: 市原 英行（広島市立大）
10:30 - 11:45 |
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10:30-10:55 |
ウェアラブル機器搭載に向けた低消費電力なパッシブ型マルチビットΔΣ変調器 |
○丸山尚哉・小松 聡（東京電機大） |
| (2) |
10:55-11:20 |
DICEを基にしたエッジトリガ型耐ソフトエラーD-FFを用いたシステム設計 |
○難波一輝（千葉大） |
| (3) |
11:20-11:45 |
PlusCALを用いた耐故障コンセンサスアルゴリズムの記述と検証 |
○小野蒼生・土屋達弘（阪大） |
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11:45-13:15 |
休憩 （ 90分 ） |
2月28日(水) 午後 テスト生成・テスト容易化設計
座長: 小松 聡（東京電機大）
13:15 - 14:30 |
| (4) |
13:15-13:40 |
A Study on Test Generation for Alleviating Over-testing of Approximate Multipliers |
○Qilin Wang・Hideyuki Ichihara・Tomoo Inoue（Hiroshima City Univ.） |
| (5) |
13:40-14:05 |
深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法 |
○塩谷晃平・西川竜矢・魏 少奇・王 森レイ・甲斐 博・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） |
| (6) |
14:05-14:30 |
擬似ブール最適化を用いた2サイクルゲート網羅故障のための低消費電力指向複数目標故障テスト生成法 |
○溝田桃菜・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） |
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14:30-14:40 |
休憩 （ 10分 ） |
2月28日(水) 午後 低消費電力・故障解析
座長: 細川 利典 (日大)
14:40 - 15:30 |
| (7) |
14:40-15:05 |
CapsNetによるウェハマップ欠陥パターン分類精度の改善 |
○山中祐輝・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） |
| (8) |
15:05-15:30 |
論理回路の分岐再収斂構造解析による高消費電力エリア特定に関する研究 |
○山下友哉・宮瀬紘平・温 暁青（九工大） |
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15:30-15:40 |
休憩 （ 10分 ） |
2月28日(水) 午後 オンラインテスト・ネットワーク
座長: 宮瀬紘平（九工大）
15:40 - 16:30 |
| (9) |
15:40-16:05 |
レジスタ転送レベルにおけるデータパスの推定フィールドランダムテスタビリティ改善のための追加状態信号系列生成について |
○豊岡雄大・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） |
| (10) |
16:05-16:30 |
相互依存ネットワークにおける強化ノード選択手法の提案 |
○松井香樹・土屋達弘（阪大） |
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