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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 渡邉 均 (東京理科大)
副委員長 木村 光宏 (法政大)
幹事 馬渡 宏泰 (NTT)， 田村 信幸 (法政大)
幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)， マラット ザニケエフ (東京理科大)

機構デバイス研究会（EMD） [schedule] [select]
専門委員長 長谷川 誠 (千歳科技大)
副委員長 関川 純哉 (静岡大)， 久我 宣裕 (横浜国大)
幹事 服部 康弘 (住友電装)， 阿部 宜輝 (NTT)
幹事補佐 上野 貴博 (日本工大)

日時 2013年 2月15日(金)　13:35 - 16:20
議題 機構デバイスの信頼性、信頼性一般（継電器・コンタクトテクノロジ研究会、IEEE CPMT JAPAN 共催） 
会場名 住友電装株式会社 
住所 三重県四日市市西末広町1番14号
交通案内 http://www.sws.co.jp/corporation/map/honsha.html
会場世話人
連絡先		 オートネットワーク技術研究所 服部康弘
059-382-8634
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛

2月15日(金) 午後 
13:30 - 16:20
  13:30-13:35 開会挨拶　（ 5分 ）
(1) 13:35-14:00 接点内を流れる電流の可視化および薄膜が集中抵抗に与える影響 ○澤田　滋・筑地茂樹（三重大）・島田茂樹（住友電工）・玉井輝雄（エルコンテック）・服部康弘（オートネットワーク技研）
(2) 14:00-14:25 異種金属接点における微摺動摩耗特性 ○山中拓哉・伊藤哲也・服部康弘（オートネットワーク技研）
(3) 14:25-14:50 交流インピーダンス測定による錫酸化皮膜の電気特性 ○伊藤大和・飯田和生・澤田　滋・清水　敦（三重大）・服部康弘（オートネットワーク技研）
  14:50-15:05 休憩　（ 15分 ）
(4) 15:05-15:30 日本におけるTOWの算出に用いる年平均気温および相対湿度の確率分布に関する研究 ○外間正浩・澤田　孝（NTT）
(5) 15:30-15:55 疑似ジャイレータを用いた中波帯アイソレータの研究 ○若井一顕（第一工大）
(6) 15:55-16:20 光通信用光学接着剤の信頼性の研究 ～ シアンフリー&シラン変性タイプ光学接着剤の高耐湿性特性 ～ ○三田地成幸・伊藤彰人（東京工科大）・木村和資（横浜ゴム）
  16:20-16:25 閉会挨拶　（ 5分 ）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 田村信幸（法政大学）
TEL 042-387-6262
FAX 042-387-6126
E--mail: i 
EMD 機構デバイス研究会（EMD）   [今後の予定はこちら]
問合先 関川 純哉（静岡大学）
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E--mail: tjkipc
久我 宣裕（横浜国立大学）
TEL (045)339-4279、FAX (045)339-4279
E--mail: y
服部 康弘（住友電装）
TEL (059)382-8634、FAX (059)382-8591
E--mail: -tsws
阿部 宜輝（NTTフォトニクス研究所）
TEL (046)240-2262、FAX (046)270-6421
E--mail: abe 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2012-12-14 15:43:38


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