6月20日(金) 午後 設計/テスト/検証 座長: 濱田周治(富士通マイクロエレクトロニクス) 13:00 - 14:50 |
(1) |
13:00-13:25 |
コータリを用いたP2P型オンラインゲーム方式 |
○浅野修太・小林 洋(東海大) |
(2) |
13:25-13:50 |
ビザンチン合意を用いたP2Pオンラインゲーム用プロトコル |
○和田大介・小林 洋(東海大) |
(3) |
13:50-14:15 |
同時多重に発生する過渡故障を前提とした高信頼プロセッサ設計 |
木村真琴・新井雅之・○福本 聡・岩崎一彦(首都大東京) |
(4) |
14:15-14:40 |
Test generation for multi-operand adders consisting of full adders |
○Nobutaka Kito・Naofumi Takagi(Nagoya Univ.) |
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14:40-14:50 |
休憩 ( 10分 ) |
6月20日(金) 午後 座長: 中尾教伸(ルネサステクノロジ) 14:50 - 15:50 |
(5) |
14:50-15:40 |
[招待講演]テスト設計における最近の課題と展望 |
○佐藤康夫(日立) |
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15:40-15:50 |
休憩 ( 10分 ) |
6月20日(金) 午後 座長: 尾野年信(NECエレクトロニクス) 15:50 - 17:05 |
(6) |
15:50-16:15 |
オープン故障診断の性能向上について |
○山崎浩二・堤 利幸(明大)・高橋 寛・樋上喜信・相京 隆(愛媛大)・四柳浩之・橋爪正樹(徳島大)・高松雄三(愛媛大) |
(7) |
16:15-16:40 |
論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について |
○原口雅史(九工大)・三浦幸也(首都大東京)・梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青(九工大) |
(8) |
16:40-17:05 |
メモリBISTにおけるハードウェアオーバヘッドおよび故障位置特定に関する一考察 |
○新井雅之・大沢健太郎・岩崎一彦(首都大東京)・中尾教伸(ルネサステクノロジ) |