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★信頼性研究会（R） 専門委員長 木村 光宏 (法政大) 副委員長 馬渡 宏泰 (NTT) 幹事 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大) 幹事補佐 マラット ザニケエフ (九工大)， 田村 信幸 (法政大) 日時 2014年11月20日(木) 13：45～16：25 会場 大阪中央電気倶楽部（大阪市北区堂島浜２丁目１番２５号．大阪駅より徒歩１２分，JR北新地駅より７分 ○地下鉄四つ橋線西梅田駅より６分ほか．http://www.chuodenki-club.or.jp/．杉谷全令 （オムロン（株））．06-6345-6351） 議題 半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般 11月20日(木) 午後 （13：45～16：25） (1) 13:45 - 14:10 マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測 ○桃田 快・遠藤幸一・御堂義博・三浦克介・中前幸治（阪大） (2) 14:10 - 14:35 ベイズに基づく劣化進行データの信頼性解析 ○貝瀬 徹（兵庫県立大） (3) 14:35 - 15:00 確率微分方程式に基づく劣化過程の信頼性解析 ○貝瀬 徹（兵庫県立大） −−− 休憩 （ 10分 ） −−− (4) 15:10 - 15:35 最尤推定法に基づくセラミックコンデンサの電圧加速モデルの選択 ○松岡敏成（三菱電機） (5) 15:35 - 16:00 結露試験に関する再現性の課題と微小結露試験による評価方法 ○西原麻友子・林沼一博（村田製作所） (6) 16:00 - 16:25 微摺動摩耗試験の一考察 ○伊藤貞則（イトケン事務所） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter，日本信頼性学会関西支部 共催 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 12月19日(金) 機械振興会館 [10月17日(金)] テーマ：信頼性国際規格，保全性，信頼性一般 2015年2月20日(金) 静岡大（浜松キャンパス） [12月12日(金)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会、IEEE CPMT Society Japan Chapter、IEEE Reliability Society Japan Chapter、静岡大学、 協賛：日本信頼性学会） 【問合先】 安里 彰（富士通） E-mail: a          Last modified: 2014-09-21 22:12:51 |
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