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★信頼性研究会（R） 専門委員長 海生 直人 (広島修道大) 副委員長 木村 康則 (富士通研) 幹事 木村 光宏 (法政大)， 馬渡 宏泰 (NTT) 幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 田村 信幸 (防衛大) 日時 2009年12月18日(金) 13：00～14：40 会場 機械振興会館（港区芝公園３－５－８．東京メトロ日比谷線：神谷町駅下車徒歩１０分，JR：浜松町駅下車徒歩２０分，都営地下鉄三田線：御成門駅・大江戸線：赤羽橋駅下車徒歩１０分．http://www.jcmanet.or.jp/gaiyo/map_kaikan.htm） 議題 信頼性国際規格，安全性，信頼性一般 12月18日(金) 午後 （13：00～14：40） (1) 13:00 - 13:25 Zn系めっき電気通信設備に生じる隙間部での腐食 ○半田隆夫・齋藤博之・藤本憲宏（NTT） (2) 13:25 - 13:50 コンクリート中鉄筋の水素による遅れ破壊 ○半田隆夫・齋藤博之・東 康弘・中村真理子・藤本憲弘（NTT） (3) 13:50 - 14:15 階層的に構成されるネットワークの信頼性評価に関する一検討 ○鈴木亜矢子（情報セキュリティ大）・渡邉 均（東京理科大）・佐藤 直（情報セキュリティ大）・花田真樹（東京理科大） (4) 14:15 - 14:40 ベース間補給を考慮したマルチベースシステムの保全性解析 ○奥田尚樹・田村信幸・弓削哲史・柳 繁（防衛大） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter 共催，日本信頼性学会 協賛 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 2010年2月19日(金) パナソニック「松心会館」 [12月15日(火)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般(共催：継電器・コンタクトテクノロジー研究会、IEEE CPMT JAPAN） 【問合先】 木村光宏（法政大学） TEL 042-387-6116 FAX 042-387-6126 E-mail:  m   i Last modified: 2009-10-19 10:49:44 |
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