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★機構デバイス研究会（EMD） 専門委員長 長谷川 誠 (千歳科技大) 副委員長 関川 純哉 (静岡大)， 久我 宣裕 (横浜国大) 幹事 服部 康弘 (住友電装)， 阿部 宜輝 (NTT) 幹事補佐 上野 貴博 (日本工大) 日時 2013年 1月25日(金) 13：30～17：10 会場 ゆとりうむ日立（日立労組戸塚支部労働会館）（〒244-0003 横浜市戸塚区戸塚町200-4．戸塚駅（ＪＲ／横浜市営地下鉄）から徒歩10分．http://www.ipc.shizuoka.ac.jp/~tjsekik/emd2013-01/EMD2013-01-Totsuka.pdf．（株）日立製作所 浅井誠二 ( 会場の電話番号 045(864)8611 )） 議題 一般 1月25日(金) 午後 （13：30～17：10） −−− 委員長挨拶 （ 5分 ） −−− (1) 13:35 - 14:25 ［招待講演］LSI安定動作、ノイズ対策および高速シリアル伝送のためのプリント基板の最新設計技術 ○田中顕裕・本木浩之・中西秀行（アイカ工業） (2) 14:25 - 15:15 ［特別講演］通話路スイッチの変遷と研究実用化考 ○青木 武（TANAKAホールディングス） −−− 休憩 （ 10分 ） −−− (3) 15:25 - 15:50 微摺動機構による電気接点の劣化現象 ～ 時系列変動データのモデリング (27) ～ ○和田真一・越田圭治（TMCシステム）・永井祥子（慶大）・益田直樹・石黒 明・柳 国男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） (4) 15:50 - 16:15 レーザ変位計を利用したサンプルの3次元形状観察システムの試作 ○長谷川 誠・河村大地・高橋佳佑（千歳科技大） (5) 16:15 - 16:40 タングステン電極間アークの電圧電流特性と消滅特性の測定 ○三島悠亮・須原啓一（東京高専） (6) 16:40 - 17:05 光学CAEを用いたパイプ中のボイドの影響量検討 ○清水紳太郎・木村 靖・片山昌昭（日立） −−− 閉会 （ 5分 ） −−− 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ☆EMD研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 2月15日(金) 住友電装 [12月12日(水)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般（継電器・コンタクトテクノロジ研究会、IEEE CPMT JAPAN 共催） 3月1日(金) 日本工業大学（宮代キャンパス） [1月18日(金)] テーマ：卒論・修論特集（ショートノート） 【問合先】 関川 純哉（静岡大学） TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618 E-mail: tj   k ipc     久我 宣裕（横浜国立大学） TEL (045)339-4279、FAX (045)339-4279 E-mail:   y 服部 康弘（住友電装） TEL (059)382-8634、FAX (059)382-8591 E-mail:     - t   sws 阿部 宜輝（NTTフォトニクス研究所） TEL (046)240-2262、FAX (046)270-6421 E-mail: abe     ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。 Last modified: 2012-11-16 18:01:49 |
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