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★信頼性研究会（R）
専門委員長　弓削哲史 (防衛大)　　副委員長　安里彰 (富士通)
幹事　田村信幸 (法政大)，平栗滋人 (鉄道総研)
幹事補佐　井上真二 (関西大)，岡村寛之 (広島大)

★機構デバイス研究会（EMD）
専門委員長　和田真一 (TMCシステム)　　副委員長　萓野良樹 (電通大)
幹事　水上雅人 (室蘭工大)，鈴木健司 (富士電機機器制御)
幹事補佐　林優一 (奈良先端大)

日時　2019年 2月15日(金)　13：00～17：05

会場パナソニック企業年金基金松心会館（http://nenkin.jpn.panasonic.com/kaikan/map/map.html）

議題機構デバイスの信頼性、信頼性一般（共催：信頼性研究会，継電器・コンタクトテクノロジ研究会，IEEE EPS JAPAN）

2月15日(金) 午後パナソニック企業年金基金松心会館（13：00～17：05）

−−−　委員長挨拶　（ 5分）　−−−

(1) 13:05 - 13:30
29th International Conference on Electrical Contacts/64th IEEE Holm Conference on Electrical Contactsの概要報告
○澤　孝一郎・吉田　清・上野貴博（日本工大）・鈴木健司（富士電機機器制御）

(2) 13:30 - 13:55
500VDC/10A抵抗性回路内で磁気吹き消しされる開離時アークの形状に対する磁石の横幅の影響
○金子裕汰・関川純哉（静岡大）

(3) 13:55 - 14:20
直流モータのブラシおよび整流子アーク痕の摺動面への復活現象
○澤　孝一郎・渡辺克忠・上野貴博（日本工大）

−−−　休憩　（ 10分）　−−−

(4) 14:30 - 14:55
同一周波数の強電界環境下における中波送信アンテナインピーダンス測定に関する一手法～システムの信頼性向上に向けて～
○有田　渉・清水一馬・野崎和彦・内海俊人（NHK）・白窪大司・矢野史也（NHKアイテック）・金森香子・山添雅彦（NHK）

(5) 14:55 - 15:55
［招待講演］MOSFETエージングモデルを用いた回路特性劣化SPICEシミュレーション
○田中浩治・雨宮真一郎・岡村　均・嶌末政憲（モーデック）

−−−　休憩　（ 10分）　−−−

(6) 16:05 - 17:05
［招待講演］事業継続とセキュリティインシデント封じ込めを両立させる情報システム構築
○嶋田　創（名大）

−−−　委員長挨拶　（ 5分）　−−−

一般講演：発表 20 分＋質疑応答 5 分
招待講演：発表 50 分＋質疑応答 10 分

◆日本信頼性学会，IEEE Reliability Society Japan Chapter共催

☆R研究会今後の予定　[ ]内発表申込締切日

5月24日(金)　愛知工業大学本山キャンパス　[3月18日(月)]　テーマ：ソフトウェアの信頼性, 信頼性一般

【問合先】
岡村寛之（広島大）
E-mail:

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☆EMD研究会今後の予定　[ ]内発表申込締切日

3月1日(金)　電通大附属図書館３０６室　[1月15日(火)]　テーマ：ショートノート（卒論・修論特集）
5月17日(金)　東北大学サイバーサイエンスセンタ　[3月11日(月)]　テーマ：一般

【問合先】
和田真一（TMCシステム）
萓野良樹（電気通信大学）
TEL&FAX 042-443-5233
E-mail: y