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★信頼性研究会（R）
専門委員長　海生直人 (広島修道大)　　副委員長　渡邉均 (東京理科大)
幹事　木村光宏 (法政大)，馬渡宏泰 (NTT)
幹事補佐　安里彰 (富士通)，田村信幸 (防衛大)

★機構デバイス研究会（EMD）
専門委員長　吉田清 (日本工大)　　副委員長　長谷川誠 (千歳科技大)
幹事　関川純哉 (静岡大)，久我宣裕 (横浜国大)
幹事補佐　服部康弘 (住友電装)

日時　2011年 2月18日(金)　13：00～17：10

会場静岡大学浜松キャンパス佐鳴会館（〒432-8561 浜松市中区城北3-5-1．JR浜松駅からバス20分．http://www.eng.shizuoka.ac.jp/outlines/p07/．工学部電気電子工学科関川純哉．053-478-1618）

議題機構デバイスの信頼性、信頼性一般（共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN）

2月18日(金) 午後（13：00～17：10）

−−−　委員長挨拶　（ 5分）　−−−

(1) 13:05 - 13:30
電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について
○玉井輝雄・澤田　滋（三重大）・服部康弘（オートネットワーク技研）

(2) 13:30 - 13:55
発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察
○筑地茂樹・澤田　滋・玉井輝雄（三重大）・服部康弘（オートネットワーク技研）・飯田和生（三重大）

(3) 13:55 - 14:20
揮発ガス雰囲気中で動作するリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討
○長谷川　誠・小林菜々絵（千歳科技大）・河野良行（カネカ）

(4) 14:20 - 14:45
開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布測定
○山梨洋平・宮司勝吉・関川純哉（静岡大）・窪野隆能（静岡大名誉教授）

−−−　休憩　（ 15分）　−−−

(5) 15:00 - 15:25
IDDQを用いたLSIの劣化兆候の検出
○坂本俊輔・眞田　克（高知工科大）

(6) 15:25 - 15:50
開放故障に伴う不安定論理の固定化
○安富泰輝・眞田　克（高知工科大）

(7) 15:50 - 16:15
初期故障率に基づく電子部品の統計的品質管理
○松岡敏成（三菱電機）

(8) 16:15 - 16:40
定量位相差顕微鏡を用いた発熱計測技術の開発
○中村共則・岩井秀直・山内豊彦・寺田浩敏（浜松ホトニクス）

(9) 16:40 - 17:05
Ni上Snめっき層のへら状成長物の要因とはんだ溶解性一考察
○伊藤貞則（イトケン事務所）・鈴木雅史（オムロン）

−−−　閉会挨拶　（ 5分）　−−−

一般講演：発表 20 分＋質疑応答 5 分

◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催日本信頼性学会協賛

☆R研究会今後の予定　[ ]内発表申込締切日

4月22日(金)　機械振興会館　[2月18日(金)]　テーマ：光部品・光デバイスの実装・信頼性、一般
5月13日(金)　高知市文化プラザ「かるぽーと」　[3月21日(月)]　テーマ：ＬＳＩを含む電子デバイスの評価・解析・診断，および信頼性一般

【問合先】
木村光宏（法政大学）
TEL 042-387-6116
FAX 042-387-6126
E-mail:

☆EMD研究会今後の予定　[ ]内発表申込締切日

3月4日(金)　日本工業大学　[1月17日(月)]　テーマ：卒論・修論特集（ショートノート）
4月　休会
5月20日(金)　東北大学サイバーサイエンスセンター　[3月17日(木)]　テーマ：一般

【問合先】
長谷川誠（千歳科学技術大学）
TEL (0123)27-6059、FAX (0123)27-6059
E-mail: