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★信頼性研究会（R） 専門委員長 土肥 正 (広島大) 副委員長 門田 靖 (リコー) 幹事 岡村 寛之 (広島大)， 井上 真二 (関西大) 幹事補佐 横川 慎二 (電通大)， 吉川 隆英 (富士通研)， 作村 建紀 (法政大) 日時 2021年10月22日(金) 13：00～16：15 会場 オンライン開催 議題 情報通信システムの信頼性，信頼性一般 10月22日(金) 午後 （13：00～16：15） (1) 13:00 - 13:25 Adversarial Attack Against COVID-19 CT Images Deep Learning System ○Li Yang・Liu Ai・Liu Shaoying（HU） (2) 13:25 - 13:50 A systematic method for identifying safety-related faults in formal specifications using FTA ○Jiang Wen*・Liu Shaoying*・Liu Ai*（HU） (3) 13:50 - 14:15 Hawkes過程を用いた力士の休場モデリングと休場予測 ○太田修平（神奈川大）・木村光宏（法政大） −−− 休憩 （ 10分 ） −−− (4) 14:25 - 15:25 ［招待講演］左切断・右打ち切りのあるフィールド寿命データ解析 ～ パラメトリックモデルに基づく統計的推論と信頼性の予測 ～ ○江村剛志（久留米大）・道前洋史（北里大） (5) 15:25 - 15:50 A Note on Sensitivity Analysis of Software Rejuvenation Model with Markov Regenerative Process ○Junjun Zheng（Ritsumeikan Univ.）・Hiroyuki Okamura・Tadashi Dohi（Hiroshima Univ.） (6) 15:50 - 16:15 ユーザビリティエラー分析に関する一考察 松原浩子・○岡村寛之・土肥 正（広島大） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆日本信頼性学会，IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 11月30日(火) オンライン開催 [9月14日(火)] テーマ：半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 12月4日(土) オンライン開催 [10月14日(木)] テーマ：信頼性国際規格，保全性，信頼性一般，安全性一般 【問合先】 井上 真二（関西大） E-mail: i    n i-u Last modified: 2021-08-18 11:44:49 |
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