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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 木村 光宏 (法政大)
副委員長 馬渡 宏泰 (NTT)
幹事 安里 彰 (富士通)， 岡村 寛之 (広島大)
幹事補佐 マラット ザニケエフ (九工大)， 田村 信幸 (法政大)

機構デバイス研究会（EMD） [schedule] [select]
専門委員長 関川 純哉 (静岡大)
副委員長 久我 宣裕 (横浜国大)
幹事 服部 康弘 (住友電装)， 阿部 宜輝 (NTT)
幹事補佐 和田 真一 (TMCシステム)

日時 2015年 2月20日(金)　14:15 - 16:15
議題 機構デバイスの信頼性、信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会、IEEE CPMT Society Japan Chapter、IEEE Reliability Society Japan Chapter、静岡大学、 協賛：日本信頼性学会） 
会場名 静岡大学 浜松キャンパス 佐鳴会館（さなるかいかん）・会議室 
住所 〒432-8561 浜松市中区城北３－５－１
交通案内 JR浜松駅北口バスターミナルからバスで約20分、バスターミナル15,16番のりばからの全路線、「静岡大学」下車
http://www.eng.shizuoka.ac.jp/outlines/p07/
会場世話人
連絡先		 関川純哉
053-478-1618
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛
著作権に
ついて		 以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

2月20日(金) 午後 
14:15 - 16:15
  14:15-14:20 委員長挨拶　（ 5分 ）
(1) 14:20-14:45 DC450V回路の開離時アークに対して用いる高分子壁材料の比較 R2014-71 EMD2014-108 ○小西弘純・関川純哉（静岡大）
(2) 14:45-15:10 窒素吹き付け下で開離時アーク発生後の銀接点表面の成分分布 R2014-72 EMD2014-109 ○渥美知之・関川純哉（静岡大）
  15:10-15:20 休憩　（ 10分 ）
(3) 15:20-15:45 微摺動機構を用いた電気接点劣化現象の評価方法 ～ いくつかの条件下における入力波形に対する最小摺動振幅 ～ R2014-73 EMD2014-110 ○和田真一・越田圭治・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（日本工大）
(4) 15:45-16:10 燃料ポンプ用DCモータのブラシおよび整流子のエタノール中での摩耗・消耗 R2014-74 EMD2014-111 ○澤　孝一郎・石原圭悟・新井瑞季・上野貴博（日本工大）
  16:10-16:15 閉会挨拶　（ 5分 ）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 安里 彰（富士通）
E--mail: a 
EMD 機構デバイス研究会（EMD）   [今後の予定はこちら]
問合先 関川 純哉（静岡大学）
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E--mail: tjkipc
久我 宣裕（横浜国立大学）
TEL (045)339-4279、FAX (045)339-4279
E--mail: y
服部 康弘（住友電装）
TEL (059)382-8634、FAX (059)382-8591
E--mail: -tsws
阿部 宜輝（NTTデバイスイノベーションセンタ）
TEL (046)240-2262、FAX (046)270-6421
E--mail: abe 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2014-12-22 15:42:37


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