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★機構デバイス研究会（EMD） 専門委員長 吉田 清 (日本工大) 副委員長 長谷川 誠 (千歳科技大) 幹事 関川 純哉 (静岡大)， 久我 宣裕 (横浜国大) 幹事補佐 服部 康弘 (住友電装) 日時 2011年 1月28日(金) 13：00～16：30 会場 日本航空電子工業株式会社（東京都昭島市武蔵野3-1-1．JR青梅線中神駅より徒歩15分．http://www.jae.co.jp/intro/mp_akisima.html．佐藤 一臣．042-549-9262） 議題 一般 1月28日(金) 午後 （13：00～16：30） (1) 13:00 - 13:25 炭素アーク電圧電流特性に関する一考察 ○須原啓一（東京高専） (2) 13:25 - 13:50 錫めっき摺動接点の三次元微細構造 ○伊藤哲也・荻原 茂・服部康弘（オートネットワーク技研） (3) 13:50 - 14:15 錫めっき微摺動摩耗痕内の接触抵抗分布測定 ○増井壮志・澤田 滋・玉井輝雄（三重大）・服部康弘（オートネットワーク技研）・飯田和生（三重大） (4) 14:15 - 14:40 錫めっき接点の形状と荷重に関する微摺動特性 ○田井富茂・古本哲也（日本航空電子） −−− 休憩 （ 10分 ） −−− (5) 14:50 - 15:15 同軸マルチコアPOFを用いた光回転リンクジョイントの構成法に関する研究 ○蒲 和也・川島 信（中部大）・川端俊介（伊原電子）・佐生誠司（旭化成イーマテリアルズ） (6) 15:15 - 15:40 印刷銀配線板におけるイオンマイグレーション抑制におよぼす樹脂-クレイハイブリッド化合物の効果 ○大谷泰之・中島伸一郎（日本航空電子） (7) 15:40 - 16:05 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ～ タッピング・デバイスの試作(1) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・川述真裕・石塚大貴・柳 国男・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） (8) 16:05 - 16:30 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ～ タッピング・デバイスの試作(2) ～ ○越田圭治・和田真一・サインダー ノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ☆EMD研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 2月18日(金) 静岡大学（浜松キャンパス） [12月14日(火)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般（共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN） 3月4日(金) 日本工業大学 [1月17日(月)] テーマ：卒論・修論特集（ショートノート） 4月 休会 【問合先】 長谷川 誠（千歳科学技術大学） TEL (0123)27-6059、FAX (0123)27-6059 E-mail:      p  n   関川 純哉（静岡大学） TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618 E-mail: tj  kipc   服部 康弘（住友電装） TEL (059)382-8970、FAX (059)382-8591 E-mail:     -t  sws ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。 Last modified: 2011-01-25 18:31:18 |
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