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★信頼性研究会（R） 専門委員長 海生 直人 (広島修道大) 副委員長 渡邉 均 (東京理科大) 幹事 木村 光宏 (法政大)， 馬渡 宏泰 (NTT) 幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 田村 信幸 (防衛大) 日時 2011年 5月13日(金) 13：30～17：40 会場 高知市文化プラザ「かるぽーと」９階第３学習室（〒780-8529 高知市九反田2-1．はりまや橋から徒歩５分．http://www.bunkaplaza.or.jp/access/index.html．高知工科大学 眞田 克 先生．0887-57-2118（会場・代表）） 議題 ＬＳＩを含む電子デバイスの評価・解析・診断，および信頼性一般 5月13日(金) 午後 （13：30～17：40） (1) 13:30 - 14:10 ［招待講演］レーザSQUID顕微鏡，レーザテラヘルツ放射顕微鏡，関連シミュレーションの統合的／選択的利用 ～ 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法 ～ ○二川 清（阪大）・山下将嗣（理研）・松本 徹（浜松ホトニクス）・三浦克介・御堂義博・中前幸治（阪大） (2) 14:10 - 14:35 走査型非線形誘電率顕微鏡法によるMONOS型メモリのVth分布観察 ○本田耕一郎（富士通研）・長 康雄（東北大） (3) 14:35 - 15:00 XRDを用いたカーボンナノチューブ構造体の結晶構造解析法 ○古田 寛（高知工科大） (4) 15:00 - 15:25 酸化亜鉛薄膜トランジスタ(ZnO TFT)のバイアスストレス劣化メカニズム ○古田 守・平松孝浩・松田時宜・平尾 孝（高知工科大）・鎌田雄大・藤田静雄（京大） −−− 休憩 （ 20分 ） −−− (5) 15:45 - 16:25 ［招待講演］レーザ励起による準静電界を用いた故障解析手法 ○伊藤誠吾・滝口清昭（東大） (6) 16:25 - 16:50 量子ドットセルオートマトンPLAの信頼性評価 ○三浦克介・野津孝行・中前幸治（阪大） (7) 16:50 - 17:15 半導体製造工場における歩留解析システムの紹介 ○姫野伸吾（東芝） (8) 17:15 - 17:40 CMOSトランジスタの動作点解析による故障箇所の特定 ○岸 和敬・眞田 克（高知工科大） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛 ◎研究会終了後，懇親会を予定しております． ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 6月17日(金) 機械振興会館 [4月13日(水)] テーマ：システムの信頼性・信頼性一般 7月29日(金) 根室グランドホテル（根室市） [5月19日(木)] テーマ：ソフトウェアの信頼性，信頼性一般 【問合先】 木村光宏（法政大学） TEL 042-387-6116 FAX 042-387-6126 E-mail:  m   i Last modified: 2011-03-24 13:53:25 |
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