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★機構デバイス研究会（EMD） 専門委員長 関川 純哉 (静岡大) 副委員長 久我 宣裕 (横浜国大) 幹事 服部 康弘 (住友電装)， 阿部 宜輝 (NTT) 幹事補佐 和田 真一 (TMCシステム) 日時 2015年 1月23日(金) 13：30～16：40 会場 富士通アドバンストテクノロジ（〒211-8588 神奈川県川崎市中原区上小田中4-1-1 富士通川崎工場内．http://jp.fujitsu.com/group/fatec/facilities/kawasaki/） 議題 一般 1月23日(金) 午後 （13：30～16：40） (1) 13:30 - 13:55 直流高電圧回路中で発生する開離時アークのガス吹きつけによる消弧 蒔山敦史（名大）・○関川純哉（静岡大） (2) 13:55 - 14:20 AgSnO2接点対による直流誘導性電流遮断時のアーク放電特性に対する電極開離速度の影響に関する実験的検討 ○長谷川 誠・大川七海・園部寛弥（千歳科技大） (3) 14:20 - 14:45 マルチコアファイバ用コネクタのPC接続端面に関する検討 ○鹿間光太・阿部宜輝・柳 秀一・高橋哲夫（NTT） (4) 14:45 - 15:10 光コネクタ用割りスリーブの微小変形に関する研究 (2) ○青野志郎・長瀬 亮（千葉工大） −−− 休憩 （ 15分 ） −−− (5) 15:25 - 15:50 定在波同軸管法を用いた非接触2波PIM試験における周波数間隔依存性に関する基礎検討 ○森田久美子・久我宣裕（横浜国大） (6) 15:50 - 16:15 BOFを用いた光ファイバセンサによる圧力測定(4) ○松田健太郎・長瀬 亮（千葉工大） (7) 16:15 - 16:40 光ファイバを用いた水溶液濃度測定 ○石橋裕介・青野志郎・長瀬 亮（千葉工大） 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ☆EMD研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 2月20日(金) 静岡大（浜松キャンパス） [12月12日(金)] テーマ：機構デバイスの信頼性、信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会、IEEE CPMT Society Japan Chapter、IEEE Reliability Society Japan Chapter、静岡大学、 協賛：日本信頼性学会） 3月6日(金) 千葉工業大学津田沼6号館614講義室 [1月15日(木)] テーマ：ショートノート （卒論・修論特集） 【問合先】 関川 純哉（静岡大学） TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618 E-mail: tj   k ipc     久我 宣裕（横浜国立大学） TEL (045)339-4279、FAX (045)339-4279 E-mail:   y 服部 康弘（住友電装） TEL (059)382-8634、FAX (059)382-8591 E-mail:     - t   sws 阿部 宜輝（NTTデバイスイノベーションセンタ） TEL (046)240-2262、FAX (046)270-6421 E-mail: abe     ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。 Last modified: 2014-11-27 13:30:32 |
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