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機構デバイス研究会(EMD) [schedule] [select]
専門委員長 吉田 清 (日本工大)
副委員長 長谷川 誠 (千歳科技大), 関川 純哉 (静岡大)
幹事 久我 宣裕 (横浜国大), 服部 康弘 (住友電装)
幹事補佐 阿部 宜輝 (NTT)

日時 2012年 5月25日(金) 13:30 - 16:40
議題 一般 
会場名 東北文化学園大学 5号館第2会議室 
住所 宮城県仙台市青葉区国見6-45-1
交通案内 JR仙山線 仙台駅から約15分、国見駅下車、徒歩1分
著作権に
ついて
以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

5月25日(金) 午後 
13:30 - 16:40
(1) 13:30-13:55 積層アルミニウム箔端の電磁圧接法 EMD2012-1 相沢友勝都立産技高専
(2) 13:55-14:20 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 ~ 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性 ~ EMD2012-2 吉田 清澤 孝一郎日本工大)・鈴木健司代島英樹高谷幸悦富士電機機器制御
(3) 14:20-14:45 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗とそのモデル (21) ~ EMD2012-3 和田真一越田圭治サインダー ノロブリン益田直樹石黒 明柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
(4) 14:45-15:10 Measurement of the Constriction Resistance in Palladium Contacts Heated by a Heater EMD2012-4 Hiroyuki Ishida・○Hiromichi KubotaTohoku Bunka Gakuen Univ.
  15:10-15:25 休憩 ( 15分 )
(5) 15:25-15:50 BOFを用いた光ファイバセンサによる荷重測定 EMD2012-5 長瀬 亮八尾坂有輝大槻崇文千葉工大
(6) 15:50-16:15 接点表面損傷形状の光学的計測システムに関する実験的検討(第2報) EMD2012-6 高橋佳佑長谷川 誠千歳科技大
(7) 16:15-16:40 スペックルパターンの変動を利用した光ファイバへの荷重印加検出システムに関する研究(第2報) EMD2012-7 川原宗貴長谷川 誠千歳科技大

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
EMD 機構デバイス研究会(EMD)   [今後の予定はこちら]
問合先 長谷川 誠(千歳科学技術大学)
TEL (0123)27-6059、FAX (0123)27-6059
E--mail: pn
関川 純哉(静岡大学)
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E--mail: tjkipc
服部 康弘(住友電装)
TEL (059)382-8970、FAX (059)382-8591
E--mail: -tsws 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2012-03-27 19:43:08


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