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★信頼性研究会（R） 専門委員長 柳 繁 (防衛大) 副委員長 若井 一顕 (第一工大) 幹事 弓削 哲史 (防衛大)， 木村 光宏 (法政大) 幹事補佐 海生 直人 (広島修道大)， 馬渡 宏泰 (NTT) 日時 2008年11月14日(金) 14：00～16：20 会場 （社）中央電気倶楽部（大阪市北区堂島浜2-1-25．大阪駅より徒歩12分，JR北新地駅より徒歩6分．http://www.chuodenki-club.or.jp/map/annai.html．06-6345-6351） 議題 電子デバイスの信頼性, 信頼性一般 11月14日(金) 午後 （14：00～16：20） (1) 14:00 - 14:25 六価クロム検出加速試験の一考察 ○柳井健太郎・安井 徹・岸本典也（オムロン）・伊藤貞則（イトケン事務所） (2) 14:25 - 14:50 半導体デバイスのデバイス帯電系ESD試験方法の検討 ○片岡資晴・三口宗彦・中野真治・和田哲明（パナソニック） (3) 14:50 - 15:15 製品安全のための解析技法について 和田 浩（関西経営管理協会） −−− 休憩 （ 15分 ） −−− (4) 15:30 - 15:55 地上ディジタルテレビ放送のノイズ対策 ○生岩量久（広島市大） (5) 15:55 - 16:20 A BDD-Based Approach to Reliability-Optimal Module Allocation in Networks ○Tatsuhiro Tsuchiya・Tohru Kikuno（Osaka Univ.） ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催；日本信頼性学会協賛 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 12月12日(金) 機械振興会館 [10月17日(金)] テーマ：信頼性国際規格,保全性,信頼性一般 2009年2月20日(金) 住友電装本社 [12月12日(金)] テーマ：機構デバイスの信頼性,信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会，IEEE CPMT JAPAN，IEEE R JAPAN) 【問合先】 弓削哲史(防衛大学校) TEL 046-841-3810 FAX 046-844-5903 E-mail:  ge n  Last modified: 2008-09-24 09:55:45 |
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