2月21日(火) 午前 低消費電力テスト
座長: 大竹哲史（大分大）
10:30 - 11:20 |
| (1) |
10:30-10:55 |
キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力指向テスト生成における動的テスト圧縮法 |
○細川利典・平井淳士・山崎紘史・新井雅之（日大） |
| (2) |
10:55-11:20 |
電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究 |
○宮瀬紘平・濱崎機一（九工大）・ザウアー マティアス（フライブルク大）・ポリアン イリア（パッサウ大）・ベッカー ベルンド（フライブルク大）・温 暁青・梶原誠司（九工大） |
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11:20-11:35 |
休憩 （ 15分 ） |
2月21日(火) 午前 故障診断
座長: 宮瀬紘平（九工大）
11:35 - 12:25 |
| (3) |
11:35-12:00 |
論理回路の組込み自己診断に関する提案 |
○香川敬祐・矢野郁也・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・大竹哲史（大分大） |
| (4) |
12:00-12:25 |
機械学習を用いたフェールチップ判別の性能向上に関する検討 |
○柚留木大地・大竹哲史（大分大）・中村芳行（ルネサス システムデザイン） |
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12:25-14:00 |
休憩 （ 95分 ） |
2月21日(火) 午後 動作合成・テスト不能判定
座長: 王 森レイ（愛媛大）
14:00 - 14:50 |
| (5) |
14:00-14:25 |
Impact of Operational Unit Binding on Aging-induced Degradation in High-level Synthesis for Asynchronous Systems |
○Tsuyoshi Iwagaki・Kohta Itani・Hideyuki Ichihara・Tomoo Inoue（Hiroshima City Univ.） |
| (6) |
14:25-14:50 |
到達不能状態を用いたSATベース順序回路のテスト不能故障判定法 |
○二関森人・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） |
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14:50-15:05 |
休憩 （ 15分 ） |
2月21日(火) 午後 セキュリティ・ディペンダブルネットワーク
座長: 新井雅之（日大）
15:05 - 15:55 |
| (7) |
15:05-15:30 |
拡張シフトレジスタを用いた強セキュア回路設計法 |
○山崎紘史・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） |
| (8) |
15:30-15:55 |
低コスト型の回避ルーティングの一考察 |
○杉浦佑介・小薄誠也・酒井和哉・福本 聡（首都大東京） |
| |
15:55-16:10 |
休憩 （ 15分 ） |
2月21日(火) 午後 アナログ回路
座長: 岩垣剛（広島市大）
16:10 - 17:00 |
| (9) |
16:10-16:35 |
FPGAに実装したリングオシレータの特性に関する考察 |
○佐藤晃平・三浦幸也（首都大東京） |
| (10) |
16:35-17:00 |
三次元積層ICのTSV相互接続の評価容易化設計DFE ～ アナログバウンダリスキャンによる接続抵抗評価 ～ |
○亀山修一（愛媛大/富士通）・王 森レイ・高橋 寛（愛媛大） |
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