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信頼性研究会(R) [schedule] [select]
専門委員長 木村 光宏 (法政大)
副委員長 馬渡 宏泰 (NTT)
幹事 安里 彰 (富士通), 岡村 寛之 (広島大)
幹事補佐 田村 信幸 (法政大), マラット ザニケエフ (九工大)

機構デバイス研究会(EMD) [schedule] [select]
専門委員長 長谷川 誠 (千歳科技大)
副委員長 関川 純哉 (静岡大), 久我 宣裕 (横浜国大)
幹事 服部 康弘 (住友電装), 阿部 宜輝 (NTT)
幹事補佐 上野 貴博 (日本工大)

日時 2014年 2月21日(金) 13:00 - 17:15
議題 機構デバイスの信頼性、信頼性一般 (共催:継電器・コンタクトテクノロジー研究会、IEEE CPMT JAPAN、IEEE Reliability Society Japan Chapter、 協賛:日本信頼性学会) 
会場名 パナソニック「松心会館」 
住所 571-0055 大阪府門真市中町1番19号
交通案内 京阪電車 門真市駅下車 徒歩約5分、または大阪モノレール門真市駅下車 徒歩約5分
http://www.shoai.jp/shoai/access.html
会場世話人
連絡先
パナソニック株式会社 一矢 光雄
06-6900-5005
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛

2月21日(金) 午後 
13:00 - 17:15
  13:00-13:05 開会挨拶 ( 5分 )
(1) 13:05-13:30 リレーの信頼度解析法に関する国際標準化の現況 ~ IEC/TC94 における活動経過 ~ ○青木 武(TANAKAホールディングス)・及川宜久(タイコエレクトロニクスジャパン)
(2) 13:30-13:55 放電境界領域における電気接点挙動の研究(その4) ~ シロキサンの酸化条件 ~ ○吉田喜郎(アルプス電気)
(3) 13:55-14:20 開離アーク放電によるAg,AgSnO2接点表面の損傷形状の3次元的比較 ○長谷川 誠・河村大地(千歳科技大)
  14:20-14:30 休憩 ( 10分 )
(4) 14:30-14:55 真の接触面での電流集中におよぼす自己磁界の影響 ○玉井輝雄(エルコンテック)・澤田 滋・服部康弘(オートネットワーク技研)
(5) 14:55-15:20 電気接点に介在するコンタクトオイルに関する研究 ○小島宏治・飯田和生(三重大)・澤田 滋(オートネットワーク技研)
(6) 15:20-15:45 HomeBox Virtual: A New Paradigm for End-to-End Services Based on VM Visitation Platforms ○Marat Zhanikeev(Kyushu Inst. of Tech.)
  15:45-15:55 休憩 ( 10分 )
(7) 15:55-16:20 蛍光灯照明装置における電磁雑音と信頼性評価 ○若井一顕(第一工大)
(8) 16:20-16:45 HPCFコネクタの接続損失に関する研究(2) ○飯久保忠久・長瀬 亮(千葉工大)
(9) 16:45-17:10 BOFを用いた光ファイバセンサによる圧力測定(3) ○松田健太郎・長瀬 亮(千葉工大)
  17:10-17:15 閉会挨拶 ( 5分 )

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会(R)   [今後の予定はこちら]
問合先 安里 彰(富士通)
E--mail: a 
EMD 機構デバイス研究会(EMD)   [今後の予定はこちら]
問合先 関川 純哉(静岡大学)
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E--mail: tjkipc
久我 宣裕(横浜国立大学)
TEL (045)339-4279、FAX (045)339-4279
E--mail: y
服部 康弘(住友電装)
TEL (059)382-8634、FAX (059)382-8591
E--mail: -tsws
阿部 宜輝(NTTフォトニクス研究所)
TEL (046)240-2262、FAX (046)270-6421
E--mail: abe 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2013-12-13 12:40:41


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