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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC)  (検索条件: 2008年度)

「from:2008-04-23 to:2008-04-23」による検索結果

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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
10:00
東京 東大・武田ホール DCバランスを保持した完全機密化通信の実装
松岡洋樹井上恒一西 宏章慶大CPSY2008-1 DC2008-1
本稿ではサイドチャネルアタックなどの新たな脅威に対する解決策として,通信路を流れるすべての信号を機密化する完全機密化通信... [more] CPSY2008-1 DC2008-1
pp.1-6
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
10:30
東京 東大・武田ホール 実行粒度調整を目的とした分散処理タスクのクラスタリング
金光永煥中里秀則星合隆成浦野義頼早大CPSY2008-2 DC2008-2
分散環境でタスクを効率よく実行する場合,タスクの実行時間と通信遅延を考慮して実行粒度を調整する
ことが重要である.これ... [more]
CPSY2008-2 DC2008-2
pp.7-12
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
11:00
東京 東大・武田ホール パッシブWABの改良による低コストなレジスタ書き込みエラー検出手法
入江英嗣杉本 健塩谷亮太東大)・渡辺憲一日立)・五島正裕坂井修一東大CPSY2008-3 DC2008-3
近年のプロセッサでは, 製造ばらつきや動作時の温度ばらつきの激化により, 最悪値を想定したマージンを見込んで設計すること... [more] CPSY2008-3 DC2008-3
pp.13-18
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
11:30
東京 東大・武田ホール FPGAを用いた耐故障システムの信頼性と性能に関する考察
野地亮志藤恵里司吉川祐樹市原英行井上智生広島市大CPSY2008-4 DC2008-4
FPGA(Field Programmable Gate Array)は今日広く利用されているVLSIであり,
回路構... [more]
CPSY2008-4 DC2008-4
pp.19-24
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
14:00
東京 東大・武田ホール 耐故障分散アルゴリズムに対するPROMELAモデルの生成
南川恭洋土屋達弘菊野 亨阪大CPSY2008-5 DC2008-5
コンセンサス問題は,耐故障分散システムを実現する上での重要な基本問題である.
しかし,コンセンサスアルゴリズムの設計は... [more]
CPSY2008-5 DC2008-5
pp.25-30
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
14:30
東京 東大・武田ホール 単一多数決器を用いたカスケード式TMRの最適構成の導出
濱松 雅土屋達弘菊野 亨阪大CPSY2008-6 DC2008-6
三重系多数決システム(TMR)は,モジュールを三重化し,それらの出力を多数決器を用いて比較するシステムで,フォールトトレ... [more] CPSY2008-6 DC2008-6
pp.31-36
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
15:00
東京 東大・武田ホール 電子システムの環境中性子線起因のエラーの現状と対策
伊部英史日立CPSY2008-7 DC2008-7
地上における民生用半導体デバイスのソフトエラーの主因として環境中性子線の影響が2000年前後から顕在
化しはじめ、各種... [more]
CPSY2008-7 DC2008-7
pp.37-42
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
15:30
東京 東大・武田ホール 耐ソフトエラーラッチの検出不可能な固定故障の影響
中島健吾難波一輝伊藤秀男千葉大CPSY2008-8 DC2008-8
近年のVLSIの微細化に伴い,ソフトエラーの発生率が増加し,ソフトエラー対策技術が重要となってきている.ソフトエラー対策... [more] CPSY2008-8 DC2008-8
pp.43-48
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
16:15
東京 東大・武田ホール 幅の広いエラーパルス検出機能を有する耐ソフトエラーFF
阮 双玉難波一輝伊藤秀男千葉大CPSY2008-9 DC2008-9
VLSI の微細化および低電力化に伴い論理回路におけるソフトエラーが問題となってきている.近年では,メモリ部やラッチ回路... [more] CPSY2008-9 DC2008-9
pp.49-54
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
16:45
東京 東大・武田ホール 非同期式回路に基づく耐劣化故障性実現に関する考察
米田友洋NII)・今井 雅東大)・松本 敦羽生貴弘東北大)・中村祐一NECCPSY2008-10 DC2008-10
半導体プロセス技術の進歩に伴い,大規模でディペンダブルなVLSIを実現する上で,今までにないようなタイプの故障が問題とな... [more] CPSY2008-10 DC2008-10
pp.55-60
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