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信頼性研究会 (R)  (検索条件: 2014年度)

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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
R 2014-11-20
13:45
大阪 大阪中央電気倶楽部 マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測
桃田 快遠藤幸一御堂義博三浦克介中前幸治阪大R2014-61
個別の半導体デバイスの使用経過時間中の特性がモニターできる仮定の下で,得られた特性からデバイスの劣化・寿命を予測する手法... [more] R2014-61
pp.1-5
R 2014-11-20
14:10
大阪 大阪中央電気倶楽部 ベイズに基づく劣化進行データの信頼性解析
貝瀬 徹兵庫県立大
 [more]
R 2014-11-20
14:35
大阪 大阪中央電気倶楽部 確率微分方程式に基づく劣化過程の信頼性解析
貝瀬 徹兵庫県立大
 [more]
R 2014-11-20
15:10
大阪 大阪中央電気倶楽部 最尤推定法に基づくセラミックコンデンサの電圧加速モデルの選択
松岡敏成三菱電機R2014-62
最尤推定法を適用した最適加速モデル選択の手順について既に報告がなされているが,今回の発表はその手法の有効性を検証した結果... [more] R2014-62
pp.7-14
R 2014-11-20
15:35
大阪 大阪中央電気倶楽部 結露試験に関する再現性の課題と微小結露試験による評価方法
西原麻友子林沼一博村田製作所R2014-63
結露サイクル試験はエレクトロケミカルマイグレーション(ECM)の評価方法の一つとして最も一般的であるが,再現性が難しいと... [more] R2014-63
pp.15-19
R 2014-11-20
16:00
大阪 大阪中央電気倶楽部 微摺動摩耗試験の一考察
伊藤貞則イトケン事務所R2014-64
部品の故障現象耐力を評価する立場からコネクタの微摺動摩耗による接触抵抗増大現象を再現し、試験条件を決める際に注意しなくて... [more] R2014-64
pp.21-24
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