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次世代無線設備試験認証技術研究会（ACT） [schedule] [select]
専門委員長 新井 宏之 (横浜国大)
副委員長 石井 望 (新潟大)
幹事 松本 泰 (NICT)， 黒川 悟 (産総研)

日時 2010年 7月 9日(金)　13:30 - 16:25
議題 無線機器測定技術一般 
会場名 情報通信研究機構（NICT）麹町会議室 (ＫＹ麹町ビル４階) 
住所 東京都千代田区麹町５-４ KY麹町ビル４階
交通案内 中央線・総武線四ツ谷駅下車麹町口徒歩４分
http://www.venture.nict.go.jp/contents/index.php/venture/content/download/21108/43544/file/map.pdf
会場世話人
連絡先		 情報通信研究機構 電磁波計測研究センター EMCグループ 松本 泰

7月9日(金) 午後 
13:30 - 16:25
(1) 13:30-13:55 ホーンアンテナの近傍電磁界特性について ○小松崎暁彦・新井宏之（横浜国大）
(2) 13:55-14:20 変調波源からの放射界の測定・評価法についての検討 ○陳　強・佐山稔貴・澤谷邦男（東北大）
(3) 14:20-14:45 合成開口波源を用いた遠方界測定法における対向アンテナ指向性の影響 ○山口　良・小宮一公・長　敬三（NTTドコモ）
(4) 14:45-15:10 アンテナ一体型無線端末に関する全放射電力測定法の比較 ○石井　望（新潟大）
(5) 15:10-15:35 Analysis of the Influence of Element Position-Error on the Beam-Pattern of Synthetic Cylindrical Array ○Karlisa Priandana・Mir Ghoraishi・Jun-ichi Takada（Tokyo Tech）・Michitaka Ameya・Satoru Kurokawa・Masanobu Hirose（AIST）
(6) 15:35-16:00 EMC試験機器校正を目指した高周波インピーダンス標準の開発 ○堀部雅弘・信太正明（産総研）
(7) 16:00-16:25 SVSWR自動測定装置を用いたターンテーブル全エリアのSVSWR評価 ○飴谷充隆・黒川　悟（産総研）・渡辺育夫・山口未来斗・蓮見亮一（デバイス）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
ACT 次世代無線設備試験認証技術研究会（ACT）   [今後の予定はこちら]
問合先 E--mail: t- 
お知らせ ◎最新情報は，ACT研究会ホームページを御覧下さい．
http://www.ieice.org/~act/


Last modified: 2010-06-08 22:36:03


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