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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 土肥 正 (広島大)
副委員長 門田 靖 (リコー)
幹事 岡村 寛之 (広島大)， 井上 真二 (関西大)
幹事補佐 横川 慎二 (電通大)， 吉川 隆英 (富士通研)， 作村 建紀 (法政大)

日時 2022年11月17日(木)　14:00 - 16:15
議題 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 
会場名 オンライン開催 
他の共催 ◆日本信頼性学会，IEEE Reliability Society Japan Chapter共催
お知らせ ◎オンライン開催です．事前に参加形態を確認するため，参加予定の方【登壇者の方を含む】は所定の参加費をお支払いの上Google Form： https://forms.gle/N5kdCqZ9NGP6RxX46 から申込をお願いします． ◉発表お申し込み時に，発表形態（今回はオンラインのみ）を備考欄にご記入ください．
著作権に
ついて		 以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
参加費に
ついて		 この開催は「技報完全電子化」研究会です．参加費（R研究会）についてはこちらをご覧ください．

11月17日(木) 午後 
14:00 - 16:15
(1) 14:00-14:25 確率微分方程式モデルに基づくエッジサーバの最適化 R2022-40 ○藤田航平・田村慶信（山口大）・山田　茂（鳥取大）
(2) 14:25-14:50 Optimal Maintenance Interval for DU Fault of Safety-Related System R2022-41 ○Shinji Inoue（Kansai Univ.）・Shigeru Yamada（Tottori Univ.）
(3) 14:50-15:15 電子部品における液晶高分子の高次構造制御による寸法安定化 R2022-42 ○今泉豊博・大谷　修（オムロン）
  15:15-15:25 休憩　（ 10分 ）
(4) 15:25-15:50 信頼性を獲得するための工程能力指数 R2022-43 ○松岡敏成（三菱電機）
(5) 15:50-16:15 階層ベイズモデルとフィルタリングに基づく故障検知の推論法 ○貝瀬　徹（兵庫県立大）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 井上 真二（関西大）
E--mail: ini-u 


Last modified: 2022-09-15 16:20:46


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