お知らせ 研究会の開催と会場に参加される皆様へのお願い(2022年6月開催~)
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信頼性研究会(R) [schedule] [select]
専門委員長 土肥 正 (広島大)
副委員長 門田 靖 (リコー)
幹事 岡村 寛之 (広島大), 井上 真二 (関西大)
幹事補佐 横川 慎二 (電通大), 吉川 隆英 (富士通研), 作村 建紀 (法政大)

日時 2022年11月17日(木) 14:00 - 16:15
議題 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 
会場名 オンライン開催 
他の共催 ◆日本信頼性学会,IEEE Reliability Society Japan Chapter共催
お知らせ ◎オンライン開催です.事前に参加形態を確認するため,参加予定の方【登壇者の方を含む】は所定の参加費をお支払いの上Google Form: https://forms.gle/N5kdCqZ9NGP6RxX46 から申込をお願いします. ◉発表お申し込み時に,発表形態(今回はオンラインのみ)を備考欄にご記入ください.
著作権に
ついて
以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
参加費に
ついて
この開催は「技報完全電子化」研究会です.参加費(R研究会)についてはこちらをご覧ください.

11月17日(木) 午後 
14:00 - 16:15
(1) 14:00-14:25 確率微分方程式モデルに基づく エッジサーバの最適化 R2022-40 藤田航平田村慶信山口大)・山田 茂鳥取大
(2) 14:25-14:50 Optimal Maintenance Interval for DU Fault of Safety-Related System R2022-41 Shinji InoueKansai Univ.)・Shigeru YamadaTottori Univ.
(3) 14:50-15:15 電子部品における液晶高分子の高次構造制御による寸法安定化 R2022-42 今泉豊博大谷 修オムロン
  15:15-15:25 休憩 ( 10分 )
(4) 15:25-15:50 信頼性を獲得するための工程能力指数 R2022-43 松岡敏成三菱電機
(5) 15:50-16:15 階層ベイズモデルとフィルタリングに基づく故障検知の推論法 貝瀬 徹兵庫県立大

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会(R)   [今後の予定はこちら]
問合先 井上 真二(関西大)
E-: ini-u 


Last modified: 2022-09-15 16:20:46


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