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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
EST, MW, EMT, OPE, MWPTHz
(共催)
IEE-EMT
(連催) [詳細]
2023-07-21
09:10
北海道 室蘭工業大学
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
不規則誘電体表面による300GHz帯散乱実験の基礎検討
吉野理玖朝倉義秀早大)・稲垣恵三NICT)・川西哲也早大EMT2023-36 MW2023-54 OPE2023-36 EST2023-36 MWPTHz2023-32
5Gや6Gではミリ波帯やテラヘルツ帯の利用が予想されているが, 波長の短さにより, 従来のシステムでは考慮されなかった散... [more] EMT2023-36 MW2023-54 OPE2023-36 EST2023-36 MWPTHz2023-32
pp.143-146
ICD 2017-04-21
10:25
東京 機械振興会館 [依頼講演]16-nm FinFETを用いた6.05-Mb/mm2の高密度及び313psの高速読み出し可能なDouble Pumping型1W1R 2-port SRAM
澤田陽平藪内 誠森本薫夫ルネサス エレクトロニクス)・佐野聡明ルネサス システムデザイン)・石井雄一郎田中信二ルネサス エレクトロニクス)・田中美紀ルネサス システムデザイン)・新居浩二ルネサス エレクトロニクスICD2017-12
 [more] ICD2017-12
pp.63-65
ICD 2016-04-14
10:10
東京 機械振興会館 [依頼講演]低消費電力MCU向け40-nm 4-Mb組込みSRAMを用いた効率的なスクリーニング手法
良田雄太ルネサス システムデザイン)・横山佳巧石井雄一郎ルネサス エレクトロニクス)・稲田敏浩田中浩司田中美紀辻橋良樹ルネサス システムデザイン)・新居浩二ルネサス エレクトロニクスICD2016-1
低消費マイコン(MCU)向けに、効率的なテストスクリーニング回路を搭載した組込みシングルポートSRAMを開発した。室温で... [more] ICD2016-1
pp.1-6
SDM, ICD
(共催)
2015-08-24
10:20
熊本 熊本市 半断線ビア抵抗を検出するためのスクライブライン搭載アレイTEG技術の開発
新川田裕樹坪井信生ルネサス エレクトロニクス)・津田淳史ルネサス システムデザイン)・佐藤伸吾関西大)・山口泰男ルネサス エレクトロニクスSDM2015-58 ICD2015-27
量産段階での活用を目指した狭いスクライブライン領域に搭載可能なアレイTEGを開発した。HSD-S(High sensit... [more] SDM2015-58 ICD2015-27
pp.7-10
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