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講演検索結果
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 86件中 1~20件目  /  [次ページ]  
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICD 2024-04-11
13:50
神奈川 川崎市産業振興会館 9階第2研修室
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
[依頼講演]200MHz超のランダムアクセス読み出し、10.4MB/sの書き換えを実現した高性能MCU向け22nm 10.8Mb混載MRAMマクロ
伊豆名雅之小川大也松原 謙帯刀恭彦斉藤朋也武田晃一金田義宣下井貴裕三谷秀徳伊藤 孝河野隆司ルネサス エレクトロニクス
(ご登録済みです.開催日以降に掲載されます) [more]
ICD 2023-04-10
11:00
神奈川 川崎市産業振興会館10階第4会議室
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
[依頼講演]高性能IoTマイコン向け22nmロジック混載STT-MRAMの高速読み出し、高速書き換え回路技術の開発
下井貴裕松原 謙斉藤朋也小川大也帯刀恭彦金田義宣伊豆名雅之武田晃一三谷秀徳伊藤 孝河野隆司ルネサス エレクトロニクスICD2023-2
高性能IoTマイコン向け、22nmロジック混載プロセスにて試作した32Mb STT-MRAMの高精度センスアンプ回路技術... [more] ICD2023-2
p.7
ICD 2023-04-11
09:30
神奈川 川崎市産業振興会館10階第4会議室
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
[依頼講演]電流調整機能を用いたばらつき補正PIMアーキテクチャの開発
北形大樹田中信二藤田直哉入江尚昭ルネサス エレクトロニクスICD2023-8
近年AIアクセラレータの低電力化に向けてProcessing-in-memory (PIM)の開発が盛んである[1].特... [more] ICD2023-8
p.16
SDM 2022-10-19
14:30
ONLINE オンライン開催に変更 CrSiC薄膜抵抗体の微細構造が電気特性に与える影響
伊藤 望前川和義高橋裕治利根川 丘ルネサス エレクトロニクスSDM2022-59
電子機器の小型化の要求を背景に、マイコンとアナログ素子 を 同一 Si基板上へ混載する技術に注目が集まっている。この混載... [more] SDM2022-59
pp.20-23
ICD, SDM
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2022-08-10
15:15
ONLINE オンライン開催に変更 現地開催(北海道大学百年記念会館)は中止 [招待講演]A CMOS Image Sensor and an AI Accelerator for Realizing Edge-Computing-Based Surveillance Camera Systems
Fukashi Morishita・○Norihito KatoSatoshi OkuboTakao ToiMitsuru HirakiSugako OtaniHideaki AbeYuji ShinoharaHiroyuki KondoRenesas ElectronicsSDM2022-52 ICD2022-20
This paper presents a CMOS image sensor and an AI accelerato... [more] SDM2022-52 ICD2022-20
pp.83-86
SDM 2021-11-12
10:30
ONLINE オンライン開催 [招待講演]4H-SiCの高エネルギー輸送における一軸性応力の影響に関するフルバンドモンテカルロ解析
西村智也永久克己園田賢一郎緒方 完ルネサス エレクトロニクスSDM2021-61
SiCは、パワーデバイス向けの次世代半導体材料として期待されており、一部はすでに実用化されている。しかし、その応力応答は... [more] SDM2021-61
pp.43-46
SDM, ICD
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2021-08-18
13:00
ONLINE オンライン開催 [招待講演]タスク分離型制御のASIL D向け機能安全と60.4TOPS、13.8TOPS/WのCNNアクセラレータを備える12nm自動運転プロセッサ
松原勝重Lieske Hannoルネサス エレクトロニクス)・木村 基Renesas Electronics Europe)・中村 淳小池 学寺島和昭森川 俊堀田義彦入田隆宏望月誠二浜崎博幸亀井達也ルネサス エレクトロニクスSDM2021-39 ICD2021-10
世代の運転支援システムや自動運転システムにおいて、軽量かつ低コストの車載電子制御装置を実現するには、膨大な演算を実現する... [more] SDM2021-39 ICD2021-10
pp.48-53
DC 2021-02-05
14:25
ONLINE オンライン開催 マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法
中岡典弘王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2020-75
 [more] DC2020-75
pp.36-41
SDM 2020-11-19
15:20
ONLINE オンライン開催 [招待講演]裏面照射型CMOS撮像画素における近赤外線の像面位相差検出
國清辰也佐藤英則神野 健飯塚康治園田賢一郎山下朋弘ルネサス エレクトロニクスSDM2020-26
裏面照射型CMOS撮像画素の受光面にGe-on-Si層を選択的に配置して,波長850 nmの入射光の像面位相差を検出する... [more] SDM2020-26
pp.21-24
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2020-11-17
11:20
ONLINE オンライン開催 マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法
環 輝王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスVLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34
 [more] VLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34
pp.24-29
DC 2020-02-26
10:25
東京 機械振興会館 畳み込みニューラルネットワークを活用したLSIテスト不良予測
岡 龍之介大竹哲史大分大)・熊木光一ルネサス エレクトロニクスDC2019-87
近年,LSI は高集積化技術の発展や低価格化を要因として信頼性を保証するテストに関するコストが増大している.これまでに,... [more] DC2019-87
pp.7-12
DC 2020-02-26
11:35
東京 機械振興会館 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法
青野智己中岡典弘周 細紅王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2019-89
車載システムの機能安全を保障するためには,システムの起動時に回路を検査するパワーオンセルフテスト(POST)が必要である... [more] DC2019-89
pp.19-24
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-14
16:10
愛媛 愛媛県男女共同参画センター 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
中岡典弘青野智己・○工藤壮司王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスVLD2019-45 DC2019-69
先進自動運転システムの機能安全を保障するために , システムの起動時に論理組込み自己テスト (LBIST)
機構を用い... [more]
VLD2019-45 DC2019-69
pp.145-150
SDM, ICD
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2019-08-07
16:30
北海道 北海道大学 情報科学院 3F A31 [招待講演]28nmスプリットゲートMONOS型フラッシュメモリを用いた高温動作かつ低エラー率を実現するPUF技術
下井貴裕斉藤朋也長瀬寛和伊豆名雅之神田明彦伊藤 孝河野隆司ルネサス エレクトロニクスSDM2019-39 ICD2019-4
28nmスプリットゲートMONOS(SG-MONOS)型フラッシュメモリを用いた、ハードウェアセキュリティ向けの高信頼の... [more] SDM2019-39 ICD2019-4
pp.15-19
SDM, ICD
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2019-08-09
10:50
北海道 北海道大学 情報科学院 3F A31 [招待講演]ISO26262 ASIL-Dをサポートする、次世代自動車アーキテクチャ向けに仮想化支援プロセッサを内蔵した28nm・600MHz車載フラッシュマイクロコントローラ
奥村直人大谷寿賀子大槻典正鈴木康文前田昇平柳田智則小池貴夫伊藤正雄上村 稔島崎靖久服部俊洋阪本憲成近藤弘郁ルネサス エレクトロニクスSDM2019-47 ICD2019-12
自動車の電気電子(E/E)アーキテクチャ進化に伴い、電子制御ユニット(ECU)の統合が求められている。ECU機能の統合に... [more] SDM2019-47 ICD2019-12
pp.67-71
CAS, CS
(共催)
2019-03-08
15:00
神奈川 湘南工科大学 [特別招待講演]車載Ethernetの最新トレンド
帆加利知史北島伸克ルネサス エレクトロニクスCAS2018-145 CS2018-113
自動運転、コネクテッドカーを実現するためにこれまでにない大容量車両内データを処理する手段として、車載システムへのEthe... [more] CAS2018-145 CS2018-113
p.39
DC 2019-02-27
09:25
東京 機械振興会館 Variational Autoencoder-Based Efficient Test Escape Detection
Michihiro ShintaniNAIST)・Kouichi KumakiRenesas Electronics Corporation)・Michiko InoueNAISTDC2018-72
 [more] DC2018-72
pp.7-12
HWS
(第二種研究会)
2018-12-13
15:05
東京 東京大学 武田先端知ビル 工場内に設置された産業機器における課題とルネサスの取り組み
余保 束ルネサス エレクトロニクス
(事前公開アブストラクト) 産業分野ではIndustory4.0が叫ばれ、工場内に設置された産業機器は工場の外部ネットワ... [more]
SDM, ICD
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2018-08-09
13:10
北海道 北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 12nm FinFETプロセスを用いた3G search/s高速デュアルポートTCAMの開発
藪内 誠森本薫夫新居浩二田中信二ルネサス エレクトロニクスSDM2018-48 ICD2018-35
 [more] SDM2018-48 ICD2018-35
pp.115-120
ICD 2018-04-20
10:20
東京 機械振興会館 [依頼講演]IoT向け65nmSOTBプロセスを用いた2RWデュアルポートSRAMの設計事例
澤田陽平山本芳樹長谷川拓実新川田裕樹藪内 誠ルネサス エレクトロニクス)・篠崎義弘伊東恭二日本システムウエア)・田中信二新居浩二蒲原史郎ルネサス エレクトロニクスICD2018-8
 [more] ICD2018-8
pp.29-32
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