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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| HWS, VLD (共催) |
2023-03-01 11:00 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
同一の回路構造のリングオシレータを用いた65nm FDSOIプロセスに発生するBTI劣化の実測評価 ○菊田大輔（京都工繊大）・岸田 亮（富山県立大）・小林和淑（京都工繊大）  VLD2022-73 HWS2022-44 |
集積回路の微細化に伴いBTI (Bias Temperature Instability) などの経年劣化現象により回路... [more] | VLD2022-73 HWS2022-44 pp.1-6 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 09:15 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | 単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル ○保坂 巧（埼玉大）・西澤真一（福岡大）・岸田 亮（東京理科大）・松本高士（東大）・小林和淑（京都工繊大） VLD2019-35 DC2019-59 |
本論文ではコンパクトな負バイアス温度不安定性（NBTI）モデルを提案する．提案モデルは反応拡散（tn）およびホールトラッ... [more] | VLD2019-35 DC2019-59 pp.57-62 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-07 14:10 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | FPGAとマイコンを用いたリングオシレータの超長期経年劣化の実測評価 ○中野洋希（京都工繊大）・岸田 亮（東京理科大）・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） CPM2018-95 ICD2018-56 IE2018-74 |
[more] | CPM2018-95 ICD2018-56 IE2018-74 pp.31-36 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-28 15:30 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | 40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法 ○籔内美智太郎・大島 梓・駒脇拓弥・小林和淑・岸田 亮・古田 潤（京都工繊大）・Pieter Weckx（ルーベン・カトリック大/IMEC）・Ben Kaczer（IMEC）・松本高士（東大）・小野寺秀俊（京大） VLD2016-52 DC2016-46 |
複合欠陥を考慮したランダムテレグラフノイズ (RTN: Random Telegraph Noise) モデルを用いた回... [more] | VLD2016-52 DC2016-46 pp.49-54 |
| ICD, CPSY (共催) |
2014-12-02 14:50 |
東京 | 機械振興会館 | 65 nmプロセスにおけるアンテナダメージによる経年劣化の測定と評価 ○岸田 亮・大島 梓・小林和淑（京都工繊大） ICD2014-106 CPSY2014-118 |
近年の集積回路の微細化により，アンテナダメージによる信頼性の低下が懸念されている．本稿では，アンテナダメージによる経年劣... [more] | ICD2014-106 CPSY2014-118 pp.123-128 |
| ICD, SDM (共催) |
2014-08-05 14:55 |
北海道 | 北海道大学 情報教育館（札幌市） | 65nmSOTBプロセスで試作したリングオシレータを用いたアンテナダメージによる初期発振周波数劣化の測定と評価 ○大島 梓・岸田 亮・籔内美智太郎・小林和淑（京都工繊大） SDM2014-79 ICD2014-48 |
近年の集積回路の微細化に伴い, BTIやアンテナダメージの影響が深刻化してい る。本研究では, 65nm バルク・S... [more] |
SDM2014-79 ICD2014-48 pp.93-98 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-28 13:20 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | バルクとSOTBにおけるアンテナダメージによるリングオシレータの発振周波数ばらつきの評価 ○岸田 亮・籔内美智太郎・大島 梓・小林和淑（京都工繊大） VLD2013-83 DC2013-49 |
近年の集積回路の微細化により、アンテナダメージによる信頼性の低下が懸念されている。 本稿ではリングオシレータにおいて発... [more] |
VLD2013-83 DC2013-49 pp.159-164 |
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