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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2024-02-28
14:05
東京 機械振興会館 擬似ブール最適化を用いた2サイクルゲート網羅故障のための低消費電力指向複数目標故障テスト生成法
溝田桃菜細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2023-99
 [more] DC2023-99
pp.29-34
DC 2024-02-28
15:40
東京 機械振興会館 レジスタ転送レベルにおけるデータパスの推定フィールドランダムテスタビリティ改善のための追加状態信号系列生成について
豊岡雄大細川利典日大)・吉村正義京都産大DC2023-102
 [more] DC2023-102
pp.47-52
DC 2023-12-08
13:50
長崎 アルカスSASEBO
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
組込み自己テストにおける両立可能故障集合を用いた複数ランダムパターンレジスタント故障のシード生成法
曽根隆暢細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2023-88
近年,超大規模集積回路の大規模化により,多量化したテストパターンをテスタに保存することは非現実的になっている.組込み自己... [more] DC2023-88
pp.7-12
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2023-08-03
11:20
北海道 函館アリーナ
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
識別可能重み付きハードウェア要素ペア数最大化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法
大塚裕衣細川利典日大)・吉村正義京都産大)・山崎浩二明大CPSY2023-12 DC2023-12
 [more] CPSY2023-12 DC2023-12
pp.25-30
HWS, VLD
(共催)
2023-03-03
11:50
沖縄 沖縄県青年会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
擬似ブール最適化を用いた論理BISTにおけるテスト実行時間最小化のためのシード選択手法
三浦 怜細川利典日大)・吉村正義京都産大VLD2022-105 HWS2022-76
 [more] VLD2022-105 HWS2022-76
pp.173-178
HWS, VLD
(共催)
2023-03-03
13:50
沖縄 沖縄県青年会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
論理圧縮を用いた機能修正回路による論理ロック手法
野口葉平吉村正義京都産大)・三浦 怜細川利典日大VLD2022-107 HWS2022-78
近年,VLSIの大規模化に伴い,VLSI設計会社は,コスト削減を目的に設計データへのIPコアの利用やファブレス化の傾向が... [more] VLD2022-107 HWS2022-78
pp.185-190
DC 2023-02-28
11:25
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法
千田祐弥細川利典日大)・山崎浩二明大DC2022-83
故障診断において,高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である.このことを実現するために,レジスタ転送... [more] DC2022-83
pp.6-11
DC 2023-02-28
14:50
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
2パターン並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法
徐 浩豊・○細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2022-88
 [more] DC2022-88
pp.33-38
DC 2023-02-28
15:15
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
組込み自己テストのための複数ランダムパータンレジスタント遷移故障のシード生成法
徐 雁レイ三浦 怜・○細川利典日大)・吉村正義京都産大DC2022-89
近年超大規模集積回路の微細化,高速化,電源電圧の低電圧化により,タイミング遅延を伴う欠陥が増加している.それゆえ, 遷移... [more] DC2022-89
pp.39-44
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2022-11-29
09:15
熊本 金沢市文化ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
識別可能ハードウェア要素ペア数最大化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法
大塚裕衣千田祐弥徐 浩豊細川利典日大)・山崎浩二明大VLD2022-25 ICD2022-42 DC2022-41 RECONF2022-48
 [more] VLD2022-25 ICD2022-42 DC2022-41 RECONF2022-48
pp.37-42
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2022-11-29
09:40
熊本 金沢市文化ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
RTL故障診断容易化設計に基づくテスト生成法
千田祐弥細川利典日大)・山崎浩二明大VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49
故障診断において,高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である.このことを実現するために,レジスタ転送... [more] VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49
pp.43-48
VLD, DC, RECONF, ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2022-11-29
10:05
熊本 金沢市文化ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
組込み自己テストにおける複数ランダムパターンレジスタント縮退故障のシード生成法
三浦 怜細川利典日大)・吉村正義京都産大VLD2022-27 ICD2022-44 DC2022-43 RECONF2022-50
 [more] VLD2022-27 ICD2022-44 DC2022-43 RECONF2022-50
pp.49-54
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2022-10-12
14:00
新潟 湯沢東映ホテル
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当てアルゴリズム
徐 浩豊細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大CPSY2022-24 DC2022-24
近年,VLSIのテストコスト増大に伴い,テストパターン数の削減が重要になっている.そのため,テスト並列化を考慮したテスト... [more] CPSY2022-24 DC2022-24
pp.37-42
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2022-07-27
09:45
山口 海峡メッセ下関
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
擬似ブール最適化を用いたFFR出力信号線遷移とWSAの相関に基づく低消費電力指向ドントケア割当て法
徐 雁レイ三浦 怜細川利典日大)・吉村正義京都産大CPSY2022-1 DC2022-1
近年,VLSIの低消費電力化に伴い,低消費電力テストを実行するために,低消費電力指向ドントケア判定手法とドントケア割当て... [more] CPSY2022-1 DC2022-1
pp.1-6
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2022-07-27
10:15
山口 海峡メッセ下関
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
故障励起条件を用いた低消費電力指向テスト生成法の高速化
三浦 怜細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大CPSY2022-2 DC2022-2
 [more] CPSY2022-2 DC2022-2
pp.7-12
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2022-07-27
11:00
山口 海峡メッセ下関
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
ゲート網羅故障のテスト生成高速化のためのブロック分割手法
溝田桃菜細川利典日大)・吉村正義京都産大CPSY2022-3 DC2022-3
セル内の欠陥を網羅するゲート網羅故障モデルはゲート数と故障数が比例の関係にあるため,ゲート数が増大すると故障数やテストパ... [more] CPSY2022-3 DC2022-3
pp.13-18
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2022-07-27
11:30
山口 海峡メッセ下関
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
フィールドテストのためのk連続状態遷移に基づく状態信号系列を用いたフィールドテスタビリティの評価
豊岡雄大渡辺悠樹細川利典日大)・吉村正義京都産大CPSY2022-4 DC2022-4
 [more] CPSY2022-4 DC2022-4
pp.19-24
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2022-03-10
10:30
ONLINE オンライン開催 論理故障テスト並列化のための制御信号のドントケア割当て法
徐 浩豊細川利典山崎紘史新井雅之日大)・吉村正義京都産大CPSY2021-56 DC2021-90
近年,VLSIのテストコスト増大に伴い,テストパターン数の削減が重要になっている.テストパターン数を削減するために,テス... [more] CPSY2021-56 DC2021-90
pp.67-72
DC 2022-03-01
13:45
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
RTLにおけるSFLL-hdに基づいた論理暗号化手法
野口葉平吉村正義京都産大)・辻川敦也細川利典日大DC2021-72
近年,VLSIの集積度の増加に伴い,LSI設計会社は設計コスト削減のためIPベンダよりIPコアと呼ばれるある機能を持った... [more] DC2021-72
pp.45-50
DC 2022-03-01
15:10
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
無効状態を含んだコントローラの遷移故障検出率向上指向状態割当て法
飯塚恭平細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大DC2021-75
 [more] DC2021-75
pp.63-68
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