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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| R | 2014-11-20 13:45 |
大阪 | 大阪中央電気倶楽部 | マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測 ○桃田 快・遠藤幸一・御堂義博・三浦克介・中前幸治（阪大）  R2014-61 |
個別の半導体デバイスの使用経過時間中の特性がモニターできる仮定の下で，得られた特性からデバイスの劣化・寿命を予測する手法... [more] | R2014-61 pp.1-5 |
| R | 2011-05-13 13:30 |
高知 | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 | ［招待講演］レーザSQUID顕微鏡，レーザテラヘルツ放射顕微鏡，関連シミュレーションの統合的／選択的利用 ～ 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法 ～ ○二川 清（阪大）・山下将嗣（理研）・松本 徹（浜松ホトニクス）・三浦克介・御堂義博・中前幸治（阪大） R2011-8 |
[more] | R2011-8 pp.1-6 |
| R | 2011-05-13 16:25 |
高知 | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 | 量子ドットセルオートマトンPLAの信頼性評価 ○三浦克介・野津孝行・中前幸治（阪大） R2011-13 |
MOSデバイスの微細化が物理的限界に近付いており、新たな論理回路実装技術が模索されている。その一つとして、量子ドットセル... [more] | R2011-13 pp.29-34 |
| ICD, CPM (共催) |
2007-01-19 11:45 |
東京 | 機械振興会館 | 抽出レイアウト情報を用いたSoCマクロブロックの故障診断手法 ○三浦克介・中前幸治（阪大） |
レイアウト抽出ネットリストを用いたSoCマクロブロックの故障診断手法を提案している。設計時のネットリストが入手できないハ... [more] | CPM2006-147 ICD2006-189 pp.103-108 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 14:30 |
東京 | 機械振興会館 | 機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法 ○三浦克介・中前幸治・藤岡 弘（阪大） |
[more] | CPM2004-170 ICD2004-215 pp.47-51 |
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