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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICD 2005-04-15
14:00
福岡 福岡システムLSI 総合開発センター 電荷収集と寄生バイポーラ効果を考慮したSRAMの中性子ソフトエラー解析
長田健一日立)・北井直樹日立超LSIシステムズ)・蒲原史朗ルネサステクノロジ)・河原尊之日立
α線や中性子線によって生じるSRAMセルのソフトエラーについて解析した.SRAMのクロスカップルインバータの帰還作用をデ... [more] ICD2005-18
pp.31-36
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