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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2015-02-13 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテスト集合を用いた単一論理故障の故障診断法の評価 ○高野秀之・山崎紘史・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）  DC2014-86 |
スキャンテストのテスト品質を向上させる手法としてマルチサイクルキャプチャテストが提案されている．しかしながら，マルチサイ... [more] | DC2014-86 pp.49-54 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 10:05 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | キャプチャ消費電力削減のためのテストポイント挿入法 ○高橋慶安・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） VLD2014-99 DC2014-53 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | VLD2014-99 DC2014-53 pp.185-190 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 10:30 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | キャプチャ消費電力削減のためのマルチサイクルキャプチャテスト生成法 ○山崎紘史・西間木 淳・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） VLD2014-100 DC2014-54 |
[more] | VLD2014-100 DC2014-54 pp.191-196 |
| DC | 2014-02-10 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法 ○高橋慶安・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2013-83 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | DC2013-83 pp.25-30 |
| DC | 2014-02-10 15:10 |
東京 | 機械振興会館 | BASTにおけるシフトデータ量削減法 ○田中まりか・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・新井雅之（日大） DC2013-87 |
LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと自動テスト生成を組み... [more] | DC2013-87 pp.49-54 |
| DC | 2014-02-10 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法 ○山崎紘史・川連裕斗・西間木 淳・平井淳士・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2013-89 |
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more] | DC2013-89 pp.61-66 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-28 14:10 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | BASTにおけるテストデータ量削減のためのインバータブロック構成法 ○田中まりか・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・新井雅之（日大）・中尾教伸（読売理工医療福祉専門学校） VLD2013-85 DC2013-51 |
LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと自動テスト生成を組み... [more] | VLD2013-85 DC2013-51 pp.171-176 |
| DC | 2011-06-24 15:50 |
東京 | 機械振興会館 | ケアビット分布制御ドントケア抽出 ～ キャプチャ消費電力削減への適用 ～ ○山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2011-12 |
近年VLSI の大規模化，複雑化に伴い，テストパターン数の増大、故障モデルの多様化，テスト時の過剰な消費電力による誤テス... [more] | DC2011-12 pp.23-28 |
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