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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| SIP, CAS, CS (共催) |
2013-03-14 15:05 |
山形 | 慶應大学鶴岡キャンパス（山形） | センサノード間静電容量結合に基づく距離推定に向けた電極形状の検討 ○信田龍哉・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大）  CAS2012-119 SIP2012-150 CS2012-125 |
我々は3 次元形状の直感的モデリングにむけて，粘土内に大量の微小センサノードを埋め込んだリアルタイム形状認識システムの実... [more] | CAS2012-119 SIP2012-150 CS2012-125 pp.131-136 |
| VLD | 2013-03-04 14:40 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | オンチップセンサを用いたばらつき自己補償手法の検討 ○樋口裕磨・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） VLD2012-138 |
半導体の製造プロセスの微細化に伴い，回路性能や歩留まりへの製造ばらつきの影響が深刻化している．製造後に回路性能を調整する... [more] | VLD2012-138 pp.13-17 |
| VLD | 2013-03-06 10:30 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 確率的動作モデルを用いたオシレータベース真性乱数生成回路のワーストケース設計手法 ○天木健彦・橋本昌宜（阪大）・密山幸男（高知工科大）・尾上孝雄（阪大） VLD2012-154 |
本稿は，決定性雑音にロバストなオシレータベース真性乱数生成回路（TRNG, True random number gen... [more] | VLD2012-154 pp.99-104 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 14:30 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | 動的部分再構成による故障回避に関する一考察 ○郡浦宏明（阪大）・今川隆司（京大）・密山幸男（高知工科大）・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） RECONF2012-59 |
再構成可能デバイスの劣化故障に起因する恒久的エラーを回避する手法として，動的再構成機能を利用した部分配置配線による故障回... [more] | RECONF2012-59 pp.71-76 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 14:55 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | 中性子起因SEMTの電源電圧及び基板バイアス依存性測定 ○原田 諒（阪大）・密山幸男（高知工科大）・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） VLD2012-100 DC2012-66 |
本稿では，中性子起因一過性複数パルス(SEMT) の測定結果を示す．まずSEMT 測定回路を提案し，65nmプロセスで試... [more] | VLD2012-100 DC2012-66 pp.237-241 |
| ICD | 2011-12-15 16:10 |
大阪 | 大阪大学会館 | ［ポスター講演］ゆらぎ増幅回路を用いたオシレータベース物理乱数生成器 ○天木健彦・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大/JST） ICD2011-118 |
本論文では、ゆらぎ増幅回路を用いたオシレータベース物理乱数生成器を提案する。65 nmプロセスにて提案回路を実装し、25... [more] | ICD2011-118 pp.87-92 |
| ICD | 2011-12-15 16:10 |
大阪 | 大阪大学会館 | ［ポスター講演］Signal-Dependent Analog-to-Digital Conversion based on MINIMAX Sampling ○Igors Homjakovs・Masanori Hashimoto（Osaka Univ.）・Tetsuya Hirose（Kobe Univ.）・Takao Onoye（Osaka Univ.） ICD2011-121 |
This paper presents an architecture of signal-dependent anal... [more] | ICD2011-121 pp.105-107 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-30 09:00 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | ［招待講演］超低電圧サブスレショルド回路設計 ○橋本昌宜（阪大） VLD2011-82 DC2011-58 |
極低電力アプリケーションの実装において、注目を集めているサブスレッショルド回路の特徴を、消費電力と消費エネルギーの観点か... [more] | VLD2011-82 DC2011-58 pp.173-178 |
| RECONF | 2011-05-12 13:55 |
北海道 | 北海道大学工学部Ｂ３棟 | 動的再構成可能アーキテクチャによる故障回避機構の定量的信頼性評価 ○郡浦宏明（阪大）・密山幸男（高知工科大）・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） RECONF2011-6 |
磨耗故障対策として，動的再構成可能アーキテクチャを用いた故障回避機構がいくつか提案されている．これらの機構を用いて達成さ... [more] | RECONF2011-6 pp.31-36 |
| ICD | 2010-12-16 15:10 |
東京 | 東京大学 先端科学技術研究センター | ［ポスター講演］電源ノイズに注目した電源遮断法の実機評価 ○高井康充・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） ICD2010-109 |
本稿では，電源遮断構造の電源ノイズへの影響について，65nmプロセスで試作したテストチップの測定とシミュレーションより評... [more] | ICD2010-109 pp.75-80 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-30 13:15 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | ［招待講演］国際会議への論文の執筆ガイド ～ VLSI設計技術分野での一考察 ～ ○橋本昌宜（阪大） VLD2010-69 DC2010-36 |
本講演では、著者のVLSI設計技術分野の国際会議におけるプログラム委員としての経験を踏まえ、国際会議に採択される論文の執... [more] | VLD2010-69 DC2010-36 p.91 |
| VLD | 2010-09-28 15:25 |
京都 | 京都工繊大 60周年記念館 | 高時間分解能を実現するSETパルス幅測定回路の提案 ○原田 諒・密山幸男・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） VLD2010-55 |
本稿では，放射線起因一過性パルス (SET) のパルス幅測定回路を提案する．まず中性子加速実験によるSET測定に必要な要... [more] | VLD2010-55 pp.77-82 |
| VLD | 2009-03-13 10:40 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | レイアウトを考慮した基板バイアスクラスタリング手法 ○濱本浩一（阪大）・橋本昌宜・密山幸男・尾上孝雄（阪大/JST） VLD2008-159 |
近年、基板バイアス制御によるLSIの性能補償に関する研究が多く行われている。従来、回路ブロックが基板バイアス制御の空間的... [more] | VLD2008-159 pp.195-200 |
| VLD | 2009-03-13 11:05 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | サブスレッショルド回路における基板バイアスを考慮したトランジスタのばらつきモデリングとリングオシレータを用いた検証 ○更田裕司・橋本昌宜・密山幸男・尾上孝雄（阪大/JST） VLD2008-160 |
本稿では，90nmプロセスで試作したテストチップを用いて，サブスレッショル ド回路における製造ばらつきのモデリングと基... [more] |
VLD2008-160 pp.201-206 |
| VLD | 2009-03-13 11:30 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | 電源ノイズ考慮統計的タイミング解析を用いたデカップリング容量割当手法 ○榎並孝司・橋本昌宜（阪大）・佐藤高史（東工大） VLD2008-161 |
本論文では、タイミング改善を目的としたデカップリング容量割当手法を提案する。 デカップリング容量は電源ノイズ低減のため... [more] |
VLD2008-161 pp.207-212 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-17 15:40 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | 柔軟な信頼性を実現する粗粒度再構成可能アーキテクチャの検討 ○高 永勲・Dawood Alnajjar・密山幸男・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大/JST） VLD2008-73 DC2008-41 |
VLSI に要求される信頼性はアプリケーションと動作環境に依存するため、VLSI 設計者には信頼性を考慮した設計が求めら... [more] | VLD2008-73 DC2008-41 pp.79-84 |
| VLD, CAS, SIP (共催) |
2008-06-26 15:05 |
北海道 | 北海道大学 高等教育機能開発センター | 基板バイアス印加レイアウト方式の面積効率と速度制御性の評価 ○濱本浩一・更田裕司（阪大）・橋本昌宜・密山幸男・尾上孝雄（阪大/JST） CAS2008-14 VLD2008-27 SIP2008-48 |
製造ばらつきによる性能ばらつきを補償する手段として、基板バイアス制御が注目を集めている。将来的に一般的な性能補償技術とし... [more] | CAS2008-14 VLD2008-27 SIP2008-48 pp.75-79 |
| DC, CPSY, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (共催) |
2008-03-28 09:30 |
鹿児島 | 屋久島 離島総合開発センター | nMOSレベルシフタ回路の性能比較手法について ○大津 誠・高橋真吾・築山修治（中大）・橋本昌宜（阪大）・白川 功（兵庫県立大） DC2007-104 CPSY2007-100 |
製造技術や要求仕様が変更された場合，同じ機能を持つ幾つかの回路のどれが最適かを見出す必要が生じることが多いが，回路性能を... [more] | DC2007-104 CPSY2007-100 pp.121-126 |
| VLD, ICD (共催) |
2008-03-06 11:10 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | nMOSダイナミック論理を用いた液晶駆動回路の設計手法 ○鉢田卓也・松中栄貴・白川 功（兵庫県立大）・築山修治（中大）・橋本昌宜（阪大） VLD2007-148 ICD2007-171 |
[more] | VLD2007-148 ICD2007-171 pp.25-30 |
| VLD, ICD (共催) |
2008-03-06 15:45 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | バス配線における誘導性クロストークノイズによる遅延変動の実測とノイズ重ね合わせ効果の検証 ○小笠原泰弘・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） VLD2007-153 ICD2007-176 |
誘導性クロストークノイズはナノメートル世代のグローバル配線設計において問題となりつつある．本稿では誘導性クロストークノイ... [more] | VLD2007-153 ICD2007-176 pp.55-60 |
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