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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD 2010-03-10
16:15
沖縄 沖縄県男女共同参画センター 超球の一部を用いた歩留り推定における不良領域の効率的探索手法
伊達貴徳萩原 汐益 一哉東工大)・佐藤高史京大VLD2009-105
SRAM セルの不良率を推定するため,従来よりMonte Carlo 法による解析が行われている.しかし,ばらつきによっ... [more] VLD2009-105
pp.37-42
ED 2009-07-31
10:00
大阪 大阪大学(銀杏会館) [基調講演]集積化MEMSの展望
益 一哉東工大ED2009-109
CMOSが微細化による高性能化(Miniaturization, or More Moore)ばかりではなく、異種な機能... [more] ED2009-109
pp.39-40
SR 2009-07-30
16:20
東京 東工大 [招待講演]RF CMOS集積回路 ~ Reconfigurability and Scalability ~
益 一哉石原 昇天川修平東工大SR2009-48
ネットワークがクラウドへ進化している中でそのハードウエアの中心の一つであるRF CMOS集積回路技術への課題について論じ... [more] SR2009-48
pp.165-166
VLD, IPSJ-SLDM
(連催)
2009-05-21
10:25
福岡 北九州国際会議場 SRAM回路の構造的対称性を考慮した2段階学習型重点的サンプリング
伊達貴徳萩原 汐上薗 巧東工大)・佐藤高史京大)・益 一哉東工大VLD2009-5
微細化にともなうトランジスタの製造ばらつきの相対的増大により,SRAM の動作マージンの減少が深刻
な問題となってきて... [more]
VLD2009-5
pp.37-42
ICD, SDM
(共催)
2008-07-18
13:10
東京 機械振興会館 [招待講演]集積化MEMSのRF CMOSへの期待
益 一哉東工大SDM2008-144 ICD2008-54
 [more] SDM2008-144 ICD2008-54
pp.95-96
SIP, ICD, IE
(共催)
IPSJ-SLDM
(併催) [詳細]
2007-10-26
15:50
福島 会津東山温泉 くつろぎ宿(福島) 新滝別館(新しい建物)4階コンベンションホール パワーゲーティング技術における製造ばらつきの回路特性への影響
萩原 汐佐藤高史益 一哉東工大
 [more]
SR 2006-07-27
14:00
神奈川 YRP [技術展示]リコンフィギュラブル技術によるマルチスタンダード無線通信回路の研究
山内拓弥川添大輔伊藤雄作岡田健一益 一哉東工大SR2006-21
本研究では,Si CMOS技術によるマルチスタンダード無線回路の実現に向けて,
リコンフィギュラブルRF回路技術を提案... [more]
SR2006-21
pp.51-58
ICD, CPM
(共催)
2005-09-09
14:30
東京 機械振興会館 [招待講演]オンチップ伝送線路配線技術
益 一哉岡田健一伊藤浩之東工大
Si CMOSはスケーリング則を指導原理とした微細化により、高速、低消費電力、高密度化を実現してきた。しかし、回路規模が... [more] CPM2005-104 ICD2005-114
pp.47-52
SR 2005-07-29
15:10
神奈川 YRP [技術展示]リコンフィギュアラブル RF CMOS 無線集積回路の研究
岡田健一菅原弘雄益 一哉東工大
本研究では,Si CMOS 技術によるマルチスタンダード無線回路の実現に向けて,リコンフィギュラブルRF回路技術を提案す... [more] SR2005-35
pp.97-103
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