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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2013-02-13
15:50
東京 機械振興会館 エラートレラントアプリケーションのための論理回路簡単化における必須割当てを利用した許容故障判定法
松木伸伍亀井惇平岩垣 剛市原英行井上智生広島市大DC2012-88
エラートレラントアプリケーションは,特定のLSIシステムの誤差(誤り)を許容することが可能なアプリケーションである.
... [more]
DC2012-88
pp.49-54
DC 2012-12-14
16:00
福井 アオッサ(福井) 過剰テスト緩和のためのテスト生成モデルと故障の許容性に基づくテストへの応用
櫻田正明市原英行岩垣 剛井上智生広島市大DC2012-77
正常に動作するチップを不良と判断してしまう過剰テストは,実効歩留まりの低下を引き起こす.本論文では,過剰テスト緩和を目的... [more] DC2012-77
pp.21-26
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-27
13:00
福岡 九州大学百年講堂 解の再利用を用いたSATに基づくテスト生成におけるインスタンス順序と変数割当順序の決定法
上田健司岩垣 剛市原英行井上智生広島市大VLD2012-83 DC2012-49
本稿では充足可能性問題(SAT)に基づくテスト生成問題を取り上げ,
解を再利用しながら複数のインスタンスを解く状況下で... [more]
VLD2012-83 DC2012-49
pp.141-146
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-27
13:25
福岡 九州大学百年講堂 耐過渡故障データパス合成における演算器バインディングのためのヒューリスティックアルゴリズム
中祖達也大窪涼子岩垣 剛市原英行井上智生広島市大VLD2012-84 DC2012-50
LSIの高集積化,高速化,利用範囲の複雑化などの背景を受けて,放射線衝突が原因でLSI内部に発生する一時故障が問題となっ... [more] VLD2012-84 DC2012-50
pp.147-152
DC 2012-06-22
13:50
東京 機械振興会館 高信頼組込み自己テストのための耐故障テスト生成器に関する考察
深澤祐樹岩垣 剛市原英行井上智生広島市大DC2012-11
BIST回路(テスト生成器や応答圧縮器など)の故障は,
被テスト回路に対するテスト実行結果の判定を誤らせる可能性があり... [more]
DC2012-11
pp.15-20
VLD 2012-03-06
15:55
大分 ビーコンプラザ 論理合成ツールを用いた論理最適化におけるRTLフォールスパスの活用
三上雄大岩垣 剛市原英行井上智生広島市大VLD2011-130
回路には,パスとして存在するが信号伝搬が発生しないフォールスパスが多数存在する.本稿では,既知のレジスタ転送レベルフォー... [more] VLD2011-130
pp.61-66
VLD 2012-03-07
15:40
大分 ビーコンプラザ 色差に着目した低電力色補間回路の設計に関する考察
面林康太岩垣 剛市原英行井上智生広島市大VLD2011-143
画像の限られた色情報から,画像の元の色を再現する色補間はデジタルカメラなと&#12441... [more] VLD2011-143
pp.139-144
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-29
09:00
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 テスト設計選択のためのLSI設計製造コストモデル
志水 昂岩垣 剛市原英行井上智生広島市大VLD2011-71 DC2011-47
LSIのテストを容易にするために,多くのテスト設計・テスト容易化設計(DFT) が提案されている.
本論文では,LSI... [more]
VLD2011-71 DC2011-47
pp.115-120
DC 2011-06-24
13:30
東京 機械振興会館 テスト可能な応答圧縮器におけるマルチサイクルシグネチャの効果について
深澤祐樹市原英行井上智生広島市大DC2011-9
組込み自己テスト(BIST)手法において,筆者らは文献[8]にて被テスト回路と同時にテスト可能な符号化応答圧縮器を提案し... [more] DC2011-9
pp.5-10
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2010-11-29
14:50
福岡 九州大学医学部百年講堂 マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法
邊見勇登吉川祐樹市原英行井上智生広島市大VLD2010-60 DC2010-27
近年,VLSI の高機能化,高集積化に伴い,放射線衝突によるソフトエラーの発生が懸念されている.特に近年の微細化と高速動... [more] VLD2010-60 DC2010-27
pp.25-30
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2010-11-29
16:25
福岡 九州大学医学部百年講堂 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察
岩本由香吉川祐樹市原英行井上智生広島市大VLD2010-63 DC2010-30
近年,LSIテスト手法の1つとして組込み自己テストが利用されている.組込み自己テストでは,LSI内部にテストベクトル系列... [more] VLD2010-63 DC2010-30
pp.43-48
DC 2010-06-25
14:00
東京 機械振興会館 スイッチの機能を考慮した部分スルー可検査性に関する考察
岡 伸也吉川祐樹市原英行井上智生広島市大DC2010-9
無閉路可検査順序回路は実用的にテスト容易な順序回路である.
その1つのクラスとして部分スルー可検査順序回路があり,順序... [more]
DC2010-9
pp.7-11
DC 2010-06-25
14:30
東京 機械振興会館 ロバストテスト可能データパスを指向した高位合成におけるバインディング法
吉川祐樹丸谷 瞬市原英行井上智生広島市大DC2010-10
 [more] DC2010-10
pp.13-18
DC 2010-02-15
15:15
東京 機械振興会館 ディジタルフィルタにおける故障の許容性に関する考察
宮口拓己吉川祐樹市原英行井上智生広島市大DC2009-75
本論文では,ディジタルフィルタを実現する順序回路に対する故障の許容性判定法を提案する.ディジタルフィルタの性質から誤りの... [more] DC2009-75
pp.63-68
VLD, CPSY, RECONF
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2010-01-27
14:05
神奈川 慶應義塾大学日吉キャンパス SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装
藤恵里司野地亮志吉川祐樹市原英行井上智生広島市大VLD2009-93 CPSY2009-75 RECONF2009-78
再構成可能デバイスを用いた高信頼システムとして,エラーを検出した際に正常な構成要素のみで再構成を行うことで,
構成前と... [more]
VLD2009-93 CPSY2009-75 RECONF2009-78
pp.149-154
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-03
13:45
高知 高知市文化プラザ テスト容易性と救済可能性を考慮した歩留まりモデルに関する考察
天野雄二郎吉川祐樹市原英行井上智生広島市大VLD2009-54 DC2009-41
LSI の微細化による過渡故障および永久故障の増加に伴い,LSIチップの歩留まり低下と市場不良の増加が問題となっている.... [more] VLD2009-54 DC2009-41
pp.89-94
DC 2009-06-19
11:10
東京 機械振興会館 閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察
出水伸和吉川祐樹市原英行井上智生広島市大DC2009-12
回路に故障が存在しても出力に重大な影響を与えない故障を許容故障という.
許容故障を考慮した16値論理に基づく閾値テスト... [more]
DC2009-12
pp.13-18
DC, CPSY
(共催)
2009-04-21
15:45
東京 首都大秋葉原サテライトキャンパス 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について
深澤祐樹吉川祐樹市原英行井上智生広島市大CPSY2009-7 DC2009-7
組込み自己テスト(BIST)手法において,テスト生成器や応答圧縮器などのBIST回路が故障すると被テスト回路のテストを適... [more] CPSY2009-7 DC2009-7
pp.37-42
DC 2009-02-16
10:00
東京 機械振興会館 故障の許容性に基づく閾値テスト生成アルゴリズムの高速化
中島佑介吉川祐樹市原英行井上智生広島市大DC2008-68
 [more] DC2008-68
pp.1-6
DC 2008-12-12
13:25
山口 サンライフ萩 故障の許容性に基づく閾値テスト生成のための回路モデル
周藤健太吉川祐樹市原英行井上智生広島市大DC2008-60
近年のLSIの微細化,高性能化に伴いLSIの用途は幅広くなっており求められる信頼性も様々である.オーディオ,画像処理シス... [more] DC2008-60
pp.5-10
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