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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2018-02-20 09:30 |
東京 | 機械振興会館 | 2パターンテストにおける重み付き故障カバレージに関する一考察 ○新井雅之（日大）・岩崎一彦（首都大東京）  DC2017-77 |
半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い，欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている．著者らは，... [more] | DC2017-77 pp.1-6 |
| DC | 2017-12-15 15:05 |
秋田 | 放送大学秋田学習センター | ビアオープン故障を考慮した重み付き故障カバレージに関する検討 ○小林泰生・岩崎一彦（首都大東京） DC2017-74 |
クリティカルエリアに基づく重み付き故障カバレージを用いて出荷VLSIチップの欠陥レベルを低減させる手法が提案されている．... [more] | DC2017-74 pp.31-36 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 09:00 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | 重み付き故障カバレージに基づくテストパターン並替えの高速化手法 ○犬山慎吾・岩崎一彦（首都大東京）・新井雅之（日大） VLD2016-61 DC2016-55 |
半導体製造技術の微細化，高集積化に伴い，欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値の乖離が問題となっている．著者らは，ク... [more] | VLD2016-61 DC2016-55 pp.99-104 |
| DC | 2016-06-20 14:15 |
東京 | 機械振興会館 | 論理ゲートのファンアウト数とその配線長の関係について ○小林泰生・岩崎一彦（首都大東京） DC2016-12 |
VLSIの配線レイアウト設計ではシュタイナー木を用いた解析や配線長を小さくするアルゴリズムが提案されてきた．ゲートのファ... [more] | DC2016-12 pp.13-18 |
| DC | 2015-06-16 14:35 |
東京 | 機械振興会館 地下3階2号室 | クリティカルエリアに基づくブリッジ故障テスト生成の高速化に関する一検討 ○新井雅之（日大）・犬山慎吾・岩崎一彦（首都大東京） DC2015-17 |
[more] | DC2015-17 pp.7-12 |
| DC | 2014-12-19 15:35 |
富山 | 高岡テクノドーム | 重み付き故障カバレージ算出に向けたオープン・ブリッジクリティカルエリアの推定法 ○新井雅之（日大）・岩崎一彦（首都大東京） DC2014-73 |
[more] | DC2014-73 pp.33-38 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 09:15 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | クリティカルエリアに基づくブリッジ故障テスト生成および評価に関する一考察 ○新井雅之（日大）・中山裕太・岩崎一彦（首都大東京） VLD2014-97 DC2014-51 |
[more] | VLD2014-97 DC2014-51 pp.173-178 |
| DC | 2014-02-10 11:35 |
東京 | 機械振興会館 | 異なる欠陥粒径とビアオープンを考慮した重み付き故障カバレージに関する一考察 ○中山裕太（首都大東京）・新井雅之（日大）・史 虹波・岩崎一彦（首都大東京） DC2013-84 |
[more] | DC2013-84 pp.31-36 |
| DC | 2013-10-24 15:00 |
東京 | 機械振興会館 地下3階1号室 | 機械学習によるネットワークビッグデータの解析 ○史 虹波・岩崎一彦（首都大東京） DC2013-24 |
[more] | DC2013-24 pp.19-24 |
| DC | 2013-02-13 11:10 |
東京 | 機械振興会館 | クリティカルエリア解析に基づく故障カバレージ見積りに関する一考察 ○清水貴弘・中山裕太・新井雅之・岩崎一彦（首都大東京） DC2012-82 |
[more] | DC2012-82 pp.13-18 |
| DC | 2012-06-22 15:20 |
東京 | 機械振興会館 | レイアウトを考慮したブリッジ/オープン故障カバレージの高精度見積法 ○新井雅之・清水貴弘・岩崎一彦（首都大東京） DC2012-13 |
[more] | DC2012-13 pp.27-32 |
| R | 2012-06-15 13:40 |
東京 | 機械振興会館 | Thinning out Checkpoint Sequence in Hybrid State Saving with a Limited Number of Periodical Checkpoints Ryo Suzuki・○Mamoru Ohara・Masayuki Arai・Satoshi Fukumoto・Kazuhiko Iwasaki（Tokyo Metropolitan Univ.） R2012-12 |
本稿では，一定の時間間隔毎にチェックポイントを生成し，有限個のチェックポイントデータを保持するような応用のためのハイブリ... [more] | R2012-12 pp.7-11 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (併催) (連催) [詳細] |
2012-03-03 14:30 |
宮城 | ホテル松島大観荘 | パイプラインプロセッサ向けカスケードTMRにおける遺伝的アルゴリズムを用いた構成探索 新井雅之・○井出 創・岩崎一彦（首都大東京） CPSY2011-94 DC2011-98 |
本稿では，半導体デバイスの量産初期段階の歩留り及び欠陥レベルの改善を目的として，パイプラインプロセッサのステージ毎にTM... [more] | CPSY2011-94 DC2011-98 pp.211-217 |
| DC | 2012-02-13 11:30 |
東京 | 機械振興会館 | レイアウトを考慮した故障カバレージの高精度見積りに関する一考察 ○新井雅之・清水貴弘・岩崎一彦（首都大東京） DC2011-79 |
半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い，欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている．本稿では，... [more] | DC2011-79 pp.19-24 |
| DC | 2011-12-16 13:00 |
兵庫 | 豊岡市社会福祉協議会／城崎地区センター | 国際会議報告：PRDC2011 (17th IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing) ○新井雅之・岩崎一彦（首都大東京） DC2011-67 |
第17回IEEEディペンダブルコンピューティングに関する環太平洋国際会議 (17th IEEE Pacific Rim ... [more] | DC2011-67 p.1 |
| DC | 2011-06-24 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | ランダムパターンテストにおける故障検出率分布に関する考察 福本 聡・○新井雅之・原 慎哉・岩崎一彦（首都大東京） DC2011-8 |
本稿では，ランダムパターンテストにおける故障検出率の分布について解析する． 各故障に関する検出と未検出の事象を，それぞ... [more] |
DC2011-8 pp.1-4 |
| DC, CPSY (共催) |
2011-04-12 16:10 |
東京 | 首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス | パイプラインプロセッサ向けカスケードTMRの欠陥レベル評価に関する一考察 ○新井雅之・岩崎一彦（首都大東京） CPSY2011-6 DC2011-6 |
[more] | CPSY2011-6 DC2011-6 pp.29-34 |
| DC | 2011-02-14 16:05 |
東京 | 機械振興会館 | 再構成可能オンチップデバッグ回路の面積削減に関する一考察 新井雅之・○田畑嘉裕・岩崎一彦（首都大東京） DC2010-69 |
本稿では，再構成可能なオンチップデバッグ回路について，その面積オーバヘッドと，観測回路の挿入箇所による故障観測性の変化に... [more] | DC2010-69 pp.63-68 |
| DC | 2010-06-25 15:45 |
東京 | 機械振興会館 | 実チップデバッグ手法における観測回路の挿入箇所および面積に関する一検討 ○新井雅之・田畑嘉裕・岩崎一彦（首都大東京） DC2010-12 |
[more] | DC2010-12 pp.25-30 |
| DC | 2009-12-11 13:25 |
島根 | 松江勤労者総合福祉センター「松江テルサ」 | Note on Programmable On-Product Clock Generation (OPCG) Circuitry for Low Power Aware Delay Test Anis Uzzaman（Cadence Design Systems/Tokyo Metro. Univ）・Brion Keller・Tom Snethen（Cadence）・Kazuhiko Iwasaki・○Masayuki Arai（Tokyo Metro. Univ） DC2009-57 |
[more] | DC2009-57 pp.7-12 |
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