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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD, CPSY, CAS (共催) |
2017-12-14 15:10 |
沖縄 | アートホテル石垣島 | Matrix Exponential法を用いたパワーMOSFETの過渡解析の高速化 ○亀井達也・熊代成孝・小林和淑（京都工繊大）  CAS2017-87 ICD2017-75 CPSY2017-84 |
パワーデバイスの設計・開発において、シミュレーション時間の短縮が求められている。本研究では、デバイス過渡解析における正確... [more] | CAS2017-87 ICD2017-75 CPSY2017-84 pp.107-112 |
| SDM | 2017-11-10 14:30 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］行列指数法によるデバイス過渡シミュレーションの正確な時間刻み指標 ○熊代成孝・亀井達也・廣木 彰・小林和淑（京都工繊大） SDM2017-70 |
パワーデバイスの過渡シミュレーションの正確な時間刻み制御指標を提案する。本指標は行列指数法によって求められた、デバイス構... [more] | SDM2017-70 pp.47-52 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-28 14:15 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | TCADシミュレーションを用いたFDSOIプロセスの耐ソフトエラー回路構造の検討 ○山田晃大・丸岡晴喜・梅原成宏・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2016-49 DC2016-43 |
集積回路はムーアの法則に従って微細化してきたが，それに伴いソフトエラーに よる信頼性の低下が問題となっている．既にソ... [more] |
VLD2016-49 DC2016-43 pp.31-36 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-28 14:40 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | PHITS-TCADシミュレーションによるFinFETとFDSOIのソフトエラー耐性の評価 ○梅原成宏・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2016-50 DC2016-44 |
集積回路の微細化に伴い，ソフトエラーによる信頼性の低下が問題となっている．近年，SOIやFinFETのような従来と異なる... [more] | VLD2016-50 DC2016-44 pp.37-41 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-28 15:05 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | 重イオン照射測定によるFDSOIにおけるFFのソフトエラー耐性の評価 ○一二三 潤・梅原成宏・丸岡晴喜・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2016-51 DC2016-45 |
微細プロセスではレイアウト構造を変更することで様々な影響が及ぶ．本研究では 28 nm と 65 nm の FDSOI ... [more] | VLD2016-51 DC2016-45 pp.43-48 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-28 15:30 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | 40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法 ○籔内美智太郎・大島 梓・駒脇拓弥・小林和淑・岸田 亮・古田 潤（京都工繊大）・Pieter Weckx（ルーベン・カトリック大/IMEC）・Ben Kaczer（IMEC）・松本高士（東大）・小野寺秀俊（京大） VLD2016-52 DC2016-46 |
複合欠陥を考慮したランダムテレグラフノイズ (RTN: Random Telegraph Noise) モデルを用いた回... [more] | VLD2016-52 DC2016-46 pp.49-54 |
| ICD, CPSY (共催) |
2015-12-17 09:40 |
京都 | 京都工芸繊維大学 | 40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化 ○大島 梓（京都工繊大）・Pieter Weckx・Ben Kaczer（IMEC）・松本高士（東大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） ICD2015-63 CPSY2015-76 |
[more] | ICD2015-63 CPSY2015-76 pp.1-6 |
| ICD, CPSY (共催) |
2015-12-17 16:00 |
京都 | 京都工芸繊維大学 | ［ポスター講演］40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化 ○大島 梓（京都工繊大）・Pieter Weckx・Ben Kaczer（IMEC）・松本高士（東大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） |
[more] | |
| ICD, CPSY (共催) |
2015-12-18 09:00 |
京都 | 京都工芸繊維大学 | 65nmバルクとThin BOX FD-SOIプロセスにおける冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価 ○曽根崎詠二・久保田勘人・増田政基・神田翔平・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） ICD2015-83 CPSY2015-96 |
集積回路の微細化に伴って、ソフトエラーにより信頼性の低下が顕在化している。ソフトエラーの対策技術としてTMRFFのような... [more] | ICD2015-83 CPSY2015-96 pp.69-74 |
| RECONF | 2015-06-19 17:00 |
京都 | 京都大学 | ［招待講演］集積回路の信頼性 ○小林和淑（京都工繊大） RECONF2015-13 |
[more] | RECONF2015-13 p.71 |
| VLD | 2015-03-03 09:40 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | プロセスばらつきとBTIの相関を考慮したタイミングマージン削減手法の検討 ○籔内美智太郎・小林和淑（京都工繊大） VLD2014-163 |
プロセスばらつきとBTI (Bias Temperature Instability)の相関を考慮すること で回路設計... [more] |
VLD2014-163 pp.61-66 |
| ICD, CPSY (共催) |
2014-12-02 14:50 |
東京 | 機械振興会館 | 65 nmプロセスにおけるアンテナダメージによる経年劣化の測定と評価 ○岸田 亮・大島 梓・小林和淑（京都工繊大） ICD2014-106 CPSY2014-118 |
近年の集積回路の微細化により，アンテナダメージによる信頼性の低下が懸念されている．本稿では，アンテナダメージによる経年劣... [more] | ICD2014-106 CPSY2014-118 pp.123-128 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-26 11:35 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | 65nm薄膜BOX-SOIとバルクプロセスにおけるSETパルス幅の電圧依存性の評価 ○曽根崎詠二・張 魁元・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2014-84 DC2014-38 |
近年、プロセスの微細化や高集積化により消費電力の増加が問題になっている。 低消費電力の実現には、低電圧化が最も効果的で... [more] |
VLD2014-84 DC2014-38 pp.93-97 |
| ICD, SDM (共催) |
2014-08-04 09:00 |
北海道 | 北海道大学 情報教育館（札幌市） | ［招待講演］A Perpetuum Mobile 32bit CPU with 13.4pJ/cycle, 0.14μA Sleep Current using Reverse-Body-Bias Assisted 65nm SOTB CMOS Technology ○Koichiro Ishibashi（UEC）・Nobuyuki Sugii（LEAP）・Kimiyoshi Usami（SIT）・Hideharu Amano（KU）・Kazutoshi Kobayashi（KIT）・Cong-Kha Pham（UEC）・Hideki Makiyama・Yoshiki Yamamoto・Hirofumi Shinohara・Toshiaki Iwamatsu・Yasuo Yamaguchi・Hidekazu Oda・Takumi Hasegawa・Shinobu Okanishi・Hiroshi Yanagita（LEAP） SDM2014-62 ICD2014-31 |
[more] | SDM2014-62 ICD2014-31 pp.1-4 |
| ICD, SDM (共催) |
2014-08-05 14:55 |
北海道 | 北海道大学 情報教育館（札幌市） | 65nmSOTBプロセスで試作したリングオシレータを用いたアンテナダメージによる初期発振周波数劣化の測定と評価 ○大島 梓・岸田 亮・籔内美智太郎・小林和淑（京都工繊大） SDM2014-79 ICD2014-48 |
近年の集積回路の微細化に伴い, BTIやアンテナダメージの影響が深刻化してい る。本研究では, 65nm バルク・S... [more] |
SDM2014-79 ICD2014-48 pp.93-98 |
| VLD | 2014-03-03 13:00 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 非均質なリングオシレータを用いたランダムテレグラフノイズの特性解析 ○西村彰平・松本高士（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） VLD2013-134 |
近年のLSIの微細化に伴い、ランダムテレグラフノイズが組み合わせ回路の遅延に与える影響が増大している。非均質なリングオシ... [more] | VLD2013-134 pp.1-6 |
| VLD | 2014-03-03 13:25 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | CMOSトランジスタのランダム・テレグラフ・ノイズが組合せ回路遅延に及ぼす影響 ○松本高士（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） VLD2013-135 |
[more] | VLD2013-135 pp.7-12 |
| VLD | 2014-03-05 10:25 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 寄生バイポーラ効果を考慮した多ビットソフトエラーの評価 ○古田 潤（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） VLD2013-157 |
集積回路の微細化に伴い, 放射線によって記憶素子の保持データが2つ以上同時に反転する MCU (Multiple Ce... [more] |
VLD2013-157 pp.125-130 |
| CPSY, RECONF, VLD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2014-01-29 14:50 |
神奈川 | 慶応義塾大学 日吉キャンパス | FPGAにおける特性ばらつきとBTI劣化の測定結果に基づく性能予測 ○籔内美智太郎・小林和淑（京都工繊大） VLD2013-129 CPSY2013-100 RECONF2013-83 |
65nmプロセスFPGAにおけるBTIによる経年劣化現象の回路への影響を測定データ を元にモデル化し，長期的な劣化の予... [more] |
VLD2013-129 CPSY2013-100 RECONF2013-83 pp.161-166 |
| ICD | 2014-01-29 11:00 |
京都 | 京都大学時計台記念館 | ［招待講演］集積回路の信頼性 ～ ソフトエラーとは ～ ○小林和淑（京都工繊大） ICD2013-134 |
本講演では，LSIの微細化とともに悪化している信頼性のうち，特にソフトエラー と呼ばれる一時故障に焦点を当ててその概要... [more] |
ICD2013-134 p.81 |
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