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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ED 2010-06-17
16:15
石川 北陸先端大 AlGaN/GaN MIS構造におけるC-V特性の解釈
水江千帆子北大)・橋詰 保北大/JSTED2010-40
 [more] ED2010-40
pp.37-40
ED, MW
(共催)
2010-01-14
10:50
東京 機械振興会館 周期的メサゲート構造を有するAlGaN/GaN HEMT
大井幸多橋詰 保北大ED2009-183 MW2009-166
ゲート電極直下のみに周期的メサ構造を有する多重台形チャネル(MMC: Multi-Mesa-Channel)HEMTでは... [more] ED2009-183 MW2009-166
pp.49-53
ED, MW
(共催)
2010-01-14
13:40
東京 機械振興会館 Al2O3/AlGaN/GaNおよびAl2O3/n-GaN構造における界面特性
水江千帆子堀 祐臣橋詰 保北大ED2009-185 MW2009-168
 [more] ED2009-185 MW2009-168
pp.61-64
ED, LQE, CPM
(共催)
2009-11-20
10:55
徳島 徳島大学(常三島キャンパス・工業会館) MgドープGaN表面特性のアニールによる変化
小川恵理橋詰 保北大/JSTED2009-150 CPM2009-124 LQE2009-129
Mgドープ量の異なるGaN表面にSiO2保護膜を形成し,1000〜1100oCの高温でアニールを行い,アニ... [more] ED2009-150 CPM2009-124 LQE2009-129
pp.105-108
ED, LQE, CPM
(共催)
2009-11-20
11:45
徳島 徳島大学(常三島キャンパス・工業会館) 高Al組成AlGaNの表面特性と深い電子準位
菅原克也久保俊晴北大)・武富浩幸三宅秀人平松和政三重大)・橋詰 保北大ED2009-152 CPM2009-126 LQE2009-131
 [more] ED2009-152 CPM2009-126 LQE2009-131
pp.115-118
SDM, ED
(共催)
2009-06-25
11:00
海外 海雲台グランドホテル(釜山、韓国) 原子層堆積により形成したAl2O3/n-GaN構造の界面評価
大山公士北大/Sumitomo Metal Mining)・水江千帆子堀 祐臣橋詰 保北大ED2009-74 SDM2009-69
 [more] ED2009-74 SDM2009-69
pp.109-112
SDM, ED
(共催)
2009-06-25
11:30
海外 海雲台グランドホテル(釜山、韓国) InP pn接合基板へのポーラス構造の形成とデバイス応用
佐藤威友吉澤直樹オカザキ ヒロユキ橋詰 保北大ED2009-76 SDM2009-71
We demonstrated to form InP porous structures on n-type epit... [more] ED2009-76 SDM2009-71
pp.117-120
ED 2009-06-11
16:00
東京 東京工業大学 原子層堆積により形成したAl2O3/AlGaN/GaNの界面評価
水江千帆子堀 祐臣北大)・ミツェーク マルチンSilesian Univ. of Tech.)・橋詰 保北大ED2009-41
 [more] ED2009-41
pp.27-30
ED, CPM, SDM
(共催)
2009-05-15
13:50
愛知 豊橋技科大サテライトオフィス AlGaN/GaN HEMTの動作安定性評価
田島正文橋詰 保北大ED2009-34 CPM2009-24 SDM2009-24
 [more] ED2009-34 CPM2009-24 SDM2009-24
pp.87-90
ED, CPM, SDM
(共催)
2009-05-15
14:15
愛知 豊橋技科大サテライトオフィス GaNの電気化学酸化による表面制御
原田脩央塩崎奈々子橋詰 保北大ED2009-35 CPM2009-25 SDM2009-25
 [more] ED2009-35 CPM2009-25 SDM2009-25
pp.91-94
MW, ED
(共催)
2009-01-16
11:45
東京 機械振興会館 ナノ細線チャネルを利用した台形ゲートAlGaN/GaN HEMT
大井幸多橋詰 保北大ED2008-223 MW2008-188
ゲート電極直下のみを周期的トレンチ構造とした多重台形チャネル(MMC) AlGaN/GaN HEMTは,側面ゲートからの... [more] ED2008-223 MW2008-188
pp.141-144
SDM, ED
(共催)
2008-07-10
10:00
北海道 かでる2・7(札幌) 2-bit Arithmetic Logic Unit Utilizing Hexagonal BDD Architecture for Implemention of Nanoprocessor on GaAs Nanowire Network
Hong-Quan ZhaoHokkaido Univ.)・Seiya KasaiHokkaido Univ./JST)・Tamotsu HashizumeHokkaido Univ.ED2008-66 SDM2008-85
2-bit arithmetic logic unit (ALU) utilizing the binary-decis... [more] ED2008-66 SDM2008-85
pp.139-144
SDM, ED
(共催)
2008-07-11
15:50
北海道 かでる2・7(札幌) 電気化学的手法によるInPポーラスナノ構造の形成および機能修飾と化学センサへの応用
溝畑彰規吉澤直樹佐藤威友橋詰 保北大ED2008-102 SDM2008-121
We investigated the electrocatalytic activity of n-type InP ... [more] ED2008-102 SDM2008-121
pp.327-330
SDM, ED
(共催)
2008-07-11
15:05
北海道 かでる2・7(札幌) Characterization of GaN Surfaces After High-Temperature Annealing and Carbon Diffusion
Takeshi KimuraTamotsu HashizumeHokkaido Univ.ED2008-106 SDM2008-125
A SiNx/GaN structure was prepared by ECR-CVD, and annealed a... [more] ED2008-106 SDM2008-125
pp.347-350
ED 2008-06-13
13:50
石川 金沢大学 角間キャンパス AlGaNの深い準位とAlGaN/GaN HEMTの動作安定性の評価
田島正文小谷淳二菅原克也橋詰 保北大ED2008-24
 [more] ED2008-24
pp.11-16
ED, SDM
(共催)
2008-01-31
11:15
北海道 北海道大学 ショットキーラップゲート制御GaAsナノワイヤネットワーク構造上への能動回路・順序回路の実装
葛西誠也北大/JST)・趙 洪泉橋詰 保北大ED2007-249 SDM2007-260
特定のトポロジおよび周期性を有する半導体ナノワイヤネットワーク構造上への能動回路・順序回路の実装について検討を行った.基... [more] ED2007-249 SDM2007-260
pp.63-68
ED, MW
(共催)
2008-01-16
13:25
東京 機械振興会館 電気化学的プロセスによるGaN表面安定化
塩崎奈々子橋詰 保北大ED2007-207 MW2007-138
ウェットプロセスによるGaN系材料の表面安定化(パッシベーション)を試みるため、グリコール水溶液中での電気化学プロセスに... [more] ED2007-207 MW2007-138
pp.7-10
SDM, R, ED
(共催)
2007-11-16
14:15
大阪 中央電気倶楽部 多重台形型チャネルを持つAlGaN/GaN HEMTの高温での電流安定性
田村隆博小谷淳二大井幸多橋詰 保北大R2007-49 ED2007-182 SDM2007-217
AlGaN/GaN高電子移動度トランジスタ(HEMT)のチャネル中における電界分布の均一性向上を図るため、ゲート電極直下... [more] R2007-49 ED2007-182 SDM2007-217
pp.19-22
CPM, ED, LQE
(共催)
2007-10-11
17:35
福井 福井大学 絶縁膜/n-GaN構造の光応答とセンサ応用
水江千帆子松山哲也小谷淳二ミツェーク マルチン橋詰 保北大ED2007-164 CPM2007-90 LQE2007-65
Metal-Insulator-Semiconductor(MIS)構造を用いた紫外光センサ構造を目的として、絶縁膜にA... [more] ED2007-164 CPM2007-90 LQE2007-65
pp.43-46
CPM, ED, LQE
(共催)
2007-10-12
11:15
福井 福井大学 AlGaN/GaNヘテロ構造表面制御とトランジスタ応用
田島正文小谷淳二田村隆博橋詰 保北大ED2007-170 CPM2007-96 LQE2007-71
AlGaN/GaN HEMTの動作安定性・信頼性を向上させることを目的として、高温でのバイアスストレス(BTストレス)評... [more] ED2007-170 CPM2007-96 LQE2007-71
pp.73-76
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