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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| SDM, ED (共催) (ワークショップ) |
2012-06-29 11:45 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | Statistical Analysis of Current Onset Voltage (COV) Distribution of Scaled MOSFETs ○Tomoko Mizutani・Anil Kumar・Toshiro Hiramoto（Univ. of Tokyo） |
Distribution of current onset voltage (COV) as well as thres... [more] | |
| SDM, ICD (共催) |
2011-08-26 09:00 |
富山 | 富山県民会館 | Takeuchiプロットを用いたHigh-k/Metal-Gate MOSFETのばらつき評価 ○水谷朋子・Anil Kumar（東大）・西田彰男・竹内 潔・稲葉 聡・蒲原史朗（MIRAI-Selete）・寺田和夫（広島市大）・最上 徹（MIRAI-Selete）・平本俊郎（東大/MIRAI-Selete）  SDM2011-83 ICD2011-51 |
[more] | SDM2011-83 ICD2011-51 pp.65-68 |
| SDM, ICD (共催) |
2011-08-26 09:25 |
富山 | 富山県民会館 | 微細MOSトランジスタにおけるDIBLおよび電流立上り電圧ばらつきの統計解析 ○Anil Kumar・水谷朋子（東大）・西田彰男・竹内 潔・稲葉 聡・蒲原史朗（MIRAI-Selete）・寺田和夫（広島市大）・最上 徹（MIRAI-Selete）・平本俊郎（東大/MIRAI-Selete） SDM2011-84 ICD2011-52 |
[more] | SDM2011-84 ICD2011-52 pp.69-73 |
| ICD, SDM (共催) |
2010-08-27 16:00 |
北海道 | 札幌エルプラザ内男女共同参画センター | 「電流立上り電圧」ばらつきに起因する微細MOSトランジスタのランダム電流ばらつきの解析 ○水谷朋子（東大）・角村貴昭（MIRAI-Selete）・Anil Kumar（東大）・西田彰男・竹内 潔・稲葉 聡・蒲原史朗（MIRAI-Selete）・寺田和夫（広島市大）・最上 徹（MIRAI-Selete）・平本俊郎（東大/MIRAI-Selete） SDM2010-150 ICD2010-65 |
大規模DMA-TEGにより65nm技術で作製したMOSトランジスタの電流ばらつきを測定し、電流ばらつきがしきい値電圧ばら... [more] | SDM2010-150 ICD2010-65 pp.143-148 |
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