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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
EMM 2023-03-02
14:30
長崎 福江文化会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
[ポスター講演]Federated Learningにおいて悪意のある分散ノードを除外するための一検討
赤井怜音栗林 稔舩曵信生岡山大EMM2022-84
深層学習技術において,複数の企業や病院において持ち出し厳禁なデータを活用するために,各ノードで学習させた深層学習モデルを... [more] EMM2022-84
pp.89-94
AP 2023-02-15
15:20
宮城 東北大学 青葉山キャンパス
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
キセノンライトアレーを用いたミリ波アクティブイメージングと機械学習を用いた物体分類
西村 陸佐藤弘康陳 強東北大AP2022-207
人や物自体が放射している熱雑音を検波して画像を得るミリ波パッシブイメージング技術は空港等におけるセキュリティ用途として期... [more] AP2022-207
pp.57-62
OPE
(共催)
OCS, OFT
(併催) [詳細]
2020-02-28
15:25
沖縄 沖縄県市町村自治会館 加速劣化による除去性への影響を考慮した光ファイバ被覆設計
岩口矩章相馬一之藤井隆志住友電工OFT2019-73 OPE2019-116
光ファイバの長期信頼性を保証するため、加速劣化試験を行っている。今回複数種の樹脂で被覆した光ファイバを試作し、85℃85... [more] OFT2019-73 OPE2019-116
pp.67-71(OFT), pp.87-91(OPE)
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-07
09:50
広島 サテライトキャンパスひろしま レプリカセンサを用いたNBTIによる回路特性変動予測に関する検討
大島國弘辺 松廣本正之佐藤高史京大VLD2018-67 DC2018-53
集積回路の主要な信頼性問題である NBTI (Negative bias temperature instability... [more] VLD2018-67 DC2018-53
pp.195-200
SANE 2018-11-09
11:30
海外 中国(許昌市) Comparison about Performance of Microwave Imaging Methods for the Target Behind Random Media
Tie-Yan YiKun-Shan ChenRADI/CASSANE2018-79
In this paper, we simulated the imaging performance of three... [more] SANE2018-79
pp.115-119
IMQ 2017-12-15
13:55
静岡 静岡大学浜松キャンパス 多視点3DCG画像のある視点における符号化欠損領域検出を想定した画像診断の検討
河畑則文千葉大IMQ2017-21
現在,工学分野における多視点3D画像及び8K高精細画像の医療応用が急速に進んでおり,画像診断に関する研究は,医療,工学の... [more] IMQ2017-21
pp.7-12
DC 2017-02-21
14:00
東京 機械振興会館 Impact of Operational Unit Binding on Aging-induced Degradation in High-level Synthesis for Asynchronous Systems
Tsuyoshi IwagakiKohta ItaniHideyuki IchiharaTomoo InoueHiroshima City Univ.DC2016-78
 [more] DC2016-78
pp.23-28
SANE 2016-11-24
14:50
海外 国立台北科技大学 [ポスター講演]An Efficient Target Detection by Band Reduction and Partial Filtering for Hyperspectral Images
Lena ChangChung-Chi MiaoNTOUSANE2016-78
An efficient and robust target detection method composed of ... [more] SANE2016-78
pp.139-143
PRMU, IE, MI, SIP
(共催)
2016-05-19
13:00
愛知 名古屋大学 視点数・解像度が色ごとに異なるライトフィールド撮像による高解像度多視点画像の取得
小林 秀杉村大輔浜本隆之東京理科大SIP2016-1 IE2016-1 PRMU2016-1 MI2016-1
本稿では,高解像度の多視点画像を取得するためのライトフィールドの撮像・処理方式を提案する.従来のライトフィールドカメラは... [more] SIP2016-1 IE2016-1 PRMU2016-1 MI2016-1
pp.1-4
RCS 2015-06-25
09:08
北海道 北海道大学 マルチキャリア重畳伝送における複数干渉波抑圧法
柿崎祐人柴田洋平大槻知明慶大)・増野 淳NTTRCS2015-59
周波数利用効率を向上する手法の1つとして,マルチキャリア重畳伝送が提案されている.この手法では複数の無線通信システムが周... [more] RCS2015-59
pp.77-82
ICD, CPSY
(共催)
2014-12-02
16:05
東京 機械振興会館 論理シミュレーションにもとづいたNBTI劣化過渡解析の高速化手法
森 一倫名倉 徹飯塚哲也浅田邦博東大ICD2014-109 CPSY2014-121
負バイアス温度不安定性(NBTI)劣化が,微細化されたトランジスタにおいて重要な信頼性問題のひとつとなっている.本論文で... [more] ICD2014-109 CPSY2014-121
pp.141-145
DC 2014-06-20
13:40
東京 機械振興会館 リング発振器を用いたLSIの劣化推定法
池田龍史・○三浦幸也首都大東京DC2014-11
ナノスケールのトランジスタではNegative Bias Temperature Instability(NBTI)やP... [more] DC2014-11
pp.7-14
OFT 2014-05-30
11:15
山形 山形大学(米沢) CFRP-FBGによる放射性廃棄物処理コンテナの老朽化及び放射能漏れセンサの開発
佐々木一正千歳科技大)・後藤正雄防災光技術ジャパン)・山田 誠阪府大OFT2014-14
福島原発の事故による放射性廃棄物の処理については国家的課題となっている.最近,これを特殊な遮蔽材によるコンテナによって貯... [more] OFT2014-14
pp.65-68
CPSY, RECONF, VLD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2014-01-29
15:40
神奈川 慶応義塾大学 日吉キャンパス オンチップリークモニタ回路を用いたNBTI測定手法の提案と有効性
佐藤貴晃宇佐美公良芝浦工大VLD2013-131 CPSY2013-102 RECONF2013-85
近年の微細化によって、トランジスタの経年劣化現象がLSIの正常動作を妨げる要因として顕著になってきている。そのため、この... [more] VLD2013-131 CPSY2013-102 RECONF2013-85
pp.173-178
SP, WIT
(共催)
2013-06-14
16:00
新潟 新潟大学駅南キャンパス「ときめいと」 /r/-/l/訓練における年齢効果:聴覚機能劣化の影響の有無
久保理恵子赤木正人北陸先端大SP2013-51 WIT2013-21
成人を対象とした米語/r/-/l/聴取訓練結果で年齢効果が示された.本報告では,訓練における年齢効果が聴覚機能劣化によっ... [more] SP2013-51 WIT2013-21
pp.119-124
OME 2012-10-17
14:20
東京 機械振興会館 B1F 3号室 有機物・ポリマーのための質量顕微鏡の開発
坂本哲夫工学院大OME2012-49
近年有機デバイスの開発が進んでいるが、多くは多層膜・パターニング等の微小構造によりその機能を発現している。成膜の良否、混... [more] OME2012-49
pp.21-25
IPSJ-SLDM, VLD
(連催)
2012-05-30
16:20
福岡 北九州国際会議場 [招待講演]微細化によるLSIの信頼性諸問題とその解決策
小林和淑京都工繊大VLD2012-5
本講演では, LSIの微細化とともに表面化している信頼性に関する諸問題とその
解決法を紹介する. 取り扱う話題は, ば... [more]
VLD2012-5
pp.25-30
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-30
10:55
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択法に関する考察
柏崎智史細川利典日大)・吉村正義九大VLD2011-85 DC2011-61
近年,製造テストで正常VLSIと判定されるが,出荷後の使用環境で経年劣化の結果,出荷時の遅延時間に対して微小な遅延が発生... [more] VLD2011-85 DC2011-61
pp.191-195
DC 2011-06-24
14:00
東京 機械振興会館 VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択結果における一考察
柏崎智史細川利典日大)・吉村正義九大DC2011-10
近年,製造テストで正常VLSIと判定されるが,出荷後の使用環境で経年劣化の結果,出荷時の遅延時間に対して微小な遅延が発生... [more] DC2011-10
pp.11-16
EA, SIP, SP
(共催)
2011-05-13
13:25
大阪 立命館大学 測定対象の非線形歪みと有色重畳雑音との両方の影響を考慮した伝達関数測定
岡崎雅嗣守谷直也ヤマハEA2011-28 SIP2011-28 SP2011-28
周波数/インパルス応答の測定において、重畳雑音に対しての耐性を上げるために、掃引正弦波(Swept Sine)信号やM系... [more] EA2011-28 SIP2011-28 SP2011-28
pp.161-166
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