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機構デバイス研究会 (EMD) (検索条件: 2012年度)
「from:2012-05-25 to:2012-05-25」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| EMD | 2012-05-25 13:30 |
宮城 | 東北文化学園大 | 積層アルミニウム箔端の電磁圧接法 ○相沢友勝（都立産技高専）  EMD2012-1 |
アルミニウム箔（厚さ12μｍ）を積層し，その一端を絶縁された銅箔（厚さ50μｍ）上に置く．これらを平板状ワンターンコイル... [more] | EMD2012-1 pp.1-6 |
| EMD | 2012-05-25 13:55 |
宮城 | 東北文化学園大 | 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 ～ 閉成時のみにアークを発生させた場合の諸特性 ～ ○吉田 清・澤 孝一郎（日本工大）・鈴木健司・代島英樹・高谷幸悦（富士電機機器制御） EMD2012-2 |
これまで、電磁コンタクタを連続開閉させた場合のアーク継続時間、接触抵抗、および電極質量の変化量に与える電源電圧の影響につ... [more] | EMD2012-2 pp.7-12 |
| EMD | 2012-05-25 14:20 |
宮城 | 東北文化学園大 | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗とそのモデル (21) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・益田直樹・石黒 明・柳 国男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2012-3 |
著者らは，電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた．本論文... [more] | EMD2012-3 pp.13-18 |
| EMD | 2012-05-25 14:45 |
宮城 | 東北文化学園大 | Pdコンタクト加熱時の集中抵抗の測定 石田広幸・○久保田啓義（東北文化学園大） EMD2012-4 |
[more] | EMD2012-4 pp.19-22 |
| EMD | 2012-05-25 15:25 |
宮城 | 東北文化学園大 | BOFを用いた光ファイバセンサによる荷重測定 ○長瀬 亮・八尾坂有輝・大槻崇文（千葉工大） EMD2012-5 |
[more] | EMD2012-5 pp.23-26 |
| EMD | 2012-05-25 15:50 |
宮城 | 東北文化学園大 | 接点表面損傷形状の光学的計測システムに関する実験的検討（第2報） ○高橋佳佑・長谷川 誠（千歳科技大） EMD2012-6 |
開閉動作試験中に接点表面に形成されるクレータや突起形状の成長過程の観察・評価を実現する目的で、複数の視点からの観察を行う... [more] | EMD2012-6 pp.27-30 |
| EMD | 2012-05-25 16:15 |
宮城 | 東北文化学園大 | スペックルパターンの変動を利用した光ファイバへの荷重印加検出システムに関する研究（第2報） ○川原宗貴・長谷川 誠（千歳科技大） EMD2012-7 |
光ファイバからの出射光スポット内に観察されるスペックルパターンの外乱印加による変動を何らかのセンシング用途に応用する可能... [more] | EMD2012-7 pp.31-36 |
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