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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| EMCJ | 2017-11-22 14:15 |
東京 | 機械振興会館 | 意図的な電磁妨害による故障発生にクロック信号の立ち上がり時間が与える影響に関する検討 ○伊東拓哉（東北大）・林 優一（奈良先端大）・水木敬明・曽根秀昭（東北大）  EMCJ2017-71 |
暗号機器に対する電源線を利用した意図的な電磁妨害による故障注入手法は，クロック信号の立ち上がり部分に異常を発生させること... [more] | EMCJ2017-71 pp.41-44 |
| EMCJ, IEE-EMC, IEE-MAG (連催) |
2016-06-02 13:33 |
海外 | NTU (台湾) | ［ポスター講演］連続正弦波による暗号機器への故障注入時に適用可能な解析手法提案 ○伊東拓哉（東北大）・林 優一（東北学院大）・水木敬明・曽根秀昭（東北大） EMCJ2016-43 |
暗号機器に対する故障注入手法として，電源線に対し連続正弦波を用いた意図的な電磁妨害を行うことで故障を注入する手法が提案さ... [more] | EMCJ2016-43 pp.83-84 |
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