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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| SDM, ICD (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2023-08-02 09:00 |
北海道 | 北海道大学 情報教育館 3F （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
［招待講演］10Gbps/Wのネットワークルーティング、40ms CANバス 起動および1.4mWの待機電力を実現する 33k DMIPS・6.4W車載コミュニケーションゲートウェイプロセッサ ○島田健市・佐野啓一郎・福岡一樹・森田浩史・大東正行・亀井達也・浜崎博幸・島崎靖久（ルネサス エレクトロニクス）  SDM2023-43 ICD2023-22 |
[more] | SDM2023-43 ICD2023-22 pp.36-40 |
| ICD | 2023-04-10 11:00 |
神奈川 | 川崎市産業振興会館10階第４会議室 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
［依頼講演］高性能IoTマイコン向け22nmロジック混載STT-MRAMの高速読み出し、高速書き換え回路技術の開発 ○下井貴裕・松原 謙・斉藤朋也・小川大也・帯刀恭彦・金田義宣・伊豆名雅之・武田晃一・三谷秀徳・伊藤 孝・河野隆司（ルネサス エレクトロニクス） ICD2023-2 |
高性能IoTマイコン向け、22nmロジック混載プロセスにて試作した32Mb STT-MRAMの高精度センスアンプ回路技術... [more] | ICD2023-2 p.7 |
| ICD | 2023-04-11 09:30 |
神奈川 | 川崎市産業振興会館10階第４会議室 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
［依頼講演］電流調整機能を用いたばらつき補正PIMアーキテクチャの開発 ○北形大樹・田中信二・藤田直哉・入江尚昭（ルネサス エレクトロニクス） ICD2023-8 |
近年AIアクセラレータの低電力化に向けてProcessing-in-memory (PIM)の開発が盛んである[1]．特... [more] | ICD2023-8 p.16 |
| ICD | 2023-04-11 15:15 |
神奈川 | 川崎市産業振興会館10階第４会議室 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
［招待講演］MCU向け混載MRAM IP開発の動向 ○斉藤朋也（ルネサス エレクトロニクス） ICD2023-12 |
MCU向け混載不揮発メモリとして、近年MRAMをはじめとする様々なEmerging メモリが開発され、その一部では量産が... [more] | ICD2023-12 p.29 |
| SDM | 2022-11-10 14:00 |
ONLINE | オンライン開催 | ［招待講演］CrSi薄膜の電気特性のモデリング ○園田賢一郎・白石信仁・前川和義・伊藤 望・長谷川英司・緒方 完（ルネサス エレクトロニクス） SDM2022-67 |
アニール時の相変化と結晶粒成長を考慮してCrSi 薄膜の電気抵抗をモデル化した．結晶粒界を含む複数の材料と結晶相からなる... [more] | SDM2022-67 pp.14-18 |
| SDM | 2022-10-19 14:30 |
ONLINE | オンライン開催に変更 | CrSiC薄膜抵抗体の微細構造が電気特性に与える影響 ○伊藤 望・前川和義・高橋裕治・利根川 丘（ルネサス エレクトロニクス） SDM2022-59 |
電子機器の小型化の要求を背景に、マイコンとアナログ素子 を 同一 Si基板上へ混載する技術に注目が集まっている。この混載... [more] | SDM2022-59 pp.20-23 |
| ICD, SDM (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2022-08-10 15:15 |
ONLINE | オンライン開催に変更 現地開催(北海道大学百年記念会館)は中止 | ［招待講演］A CMOS Image Sensor and an AI Accelerator for Realizing Edge-Computing-Based Surveillance Camera Systems Fukashi Morishita・○Norihito Kato・Satoshi Okubo・Takao Toi・Mitsuru Hiraki・Sugako Otani・Hideaki Abe・Yuji Shinohara・Hiroyuki Kondo（Renesas Electronics） SDM2022-52 ICD2022-20 |
This paper presents a CMOS image sensor and an AI accelerato... [more] | SDM2022-52 ICD2022-20 pp.83-86 |
| SDM | 2022-01-31 13:15 |
ONLINE | オンライン開催 | ［招待講演］16nm Fin FETプロセス混載STT-MRAM における72％の書込みエネルギー低減を達成したセルフターミネーション書込み方式 ○斉藤朋也・伊藤 孝・帯刀恭彦・園田賢一郎・渡辺源太・松原 謙・神田明彦・下井貴裕・武田晃一・河野隆司（ルネサス エレクトロニクス） SDM2021-68 |
16nm FinFETロジックプロセス混載の20Mb STT-MRAMアレイを搭載したTEGチップを用いて、低エネルギー... [more] | SDM2021-68 pp.1-4 |
| SDM | 2021-11-12 10:30 |
ONLINE | オンライン開催 | ［招待講演］4H-SiCの高エネルギー輸送における一軸性応力の影響に関するフルバンドモンテカルロ解析 ○西村智也・永久克己・園田賢一郎・緒方 完（ルネサス エレクトロニクス） SDM2021-61 |
SiCは、パワーデバイス向けの次世代半導体材料として期待されており、一部はすでに実用化されている。しかし、その応力応答は... [more] | SDM2021-61 pp.43-46 |
| SDM, ICD (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2021-08-18 13:00 |
ONLINE | オンライン開催 | ［招待講演］タスク分離型制御のASIL D向け機能安全と60.4TOPS、13.8TOPS/WのCNNアクセラレータを備える12nm自動運転プロセッサ ○松原勝重・Lieske Hanno（ルネサス エレクトロニクス）・木村 基（Renesas Electronics Europe）・中村 淳・小池 学・寺島和昭・森川 俊・堀田義彦・入田隆宏・望月誠二・浜崎博幸・亀井達也（ルネサス エレクトロニクス） SDM2021-39 ICD2021-10 |
世代の運転支援システムや自動運転システムにおいて、軽量かつ低コストの車載電子制御装置を実現するには、膨大な演算を実現する... [more] | SDM2021-39 ICD2021-10 pp.48-53 |
| DC | 2021-02-05 14:25 |
ONLINE | オンライン開催 | マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法 ○中岡典弘・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス） DC2020-75 |
[more] | DC2020-75 pp.36-41 |
| SDM | 2020-11-19 15:20 |
ONLINE | オンライン開催 | ［招待講演］裏面照射型CMOS撮像画素における近赤外線の像面位相差検出 ○國清辰也・佐藤英則・神野 健・飯塚康治・園田賢一郎・山下朋弘（ルネサス エレクトロニクス） SDM2020-26 |
裏面照射型CMOS撮像画素の受光面にGe-on-Si層を選択的に配置して，波長850 nmの入射光の像面位相差を検出する... [more] | SDM2020-26 pp.21-24 |
| VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM (連催) (併催) [詳細] |
2020-11-17 11:20 |
ONLINE | オンライン開催 | マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法 ○環 輝・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス） VLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34 |
[more] | VLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34 pp.24-29 |
| DC | 2020-02-26 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 畳み込みニューラルネットワークを活用したLSIテスト不良予測 ○岡 龍之介・大竹哲史（大分大）・熊木光一（ルネサス エレクトロニクス） DC2019-87 |
近年，LSI は高集積化技術の発展や低価格化を要因として信頼性を保証するテストに関するコストが増大している．これまでに，... [more] | DC2019-87 pp.7-12 |
| DC | 2020-02-26 11:35 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法 ○青野智己・中岡典弘・周 細紅・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス） DC2019-89 |
車載システムの機能安全を保障するためには，システムの起動時に回路を検査するパワーオンセルフテスト(POST)が必要である... [more] | DC2019-89 pp.19-24 |
| SDM | 2020-02-07 09:35 |
東京 | 東京大学/本郷キャンパス工学部4号館3階42講義室（419号室) | ［招待講演］強誘電体Hf0.5Zr0.5O2膜中へ単層Si挿入により均一埋設したAlナノクラスタが強誘電体トランジスタの閾値電圧ばらつきに与える効果 ○山口 直・前川径一・大原隆裕・天羽生 淳・佃 栄次・園田賢一郎・柳田博史・井上真雄・松浦正純・山下朋弘（ルネサス エレクトロニクス） SDM2019-89 |
[more] | SDM2019-89 pp.5-8 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 16:10 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析 中岡典弘・青野智己・○工藤壮司・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤（ルネサス エレクトロニクス） VLD2019-45 DC2019-69 |
先進自動運転システムの機能安全を保障するために , システムの起動時に論理組込み自己テスト (LBIST) 機構を用い... [more] |
VLD2019-45 DC2019-69 pp.145-150 |
| SDM, ICD (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2019-08-07 16:30 |
北海道 | 北海道大学 情報科学院 3F A31 | ［招待講演］28nmスプリットゲートMONOS型フラッシュメモリを用いた高温動作かつ低エラー率を実現するPUF技術 ○下井貴裕・斉藤朋也・長瀬寛和・伊豆名雅之・神田明彦・伊藤 孝・河野隆司（ルネサス エレクトロニクス） SDM2019-39 ICD2019-4 |
28nmスプリットゲートMONOS（SG-MONOS）型フラッシュメモリを用いた、ハードウェアセキュリティ向けの高信頼の... [more] | SDM2019-39 ICD2019-4 pp.15-19 |
| SDM, ICD (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2019-08-09 10:50 |
北海道 | 北海道大学 情報科学院 3F A31 | ［招待講演］ISO26262 ASIL-Dをサポートする、次世代自動車アーキテクチャ向けに仮想化支援プロセッサを内蔵した28nm・600MHz車載フラッシュマイクロコントローラ ○奥村直人・大谷寿賀子・大槻典正・鈴木康文・前田昇平・柳田智則・小池貴夫・伊藤正雄・上村 稔・島崎靖久・服部俊洋・阪本憲成・近藤弘郁（ルネサス エレクトロニクス） SDM2019-47 ICD2019-12 |
自動車の電気電子(E/E)アーキテクチャ進化に伴い、電子制御ユニット（ECU）の統合が求められている。ECU機能の統合に... [more] | SDM2019-47 ICD2019-12 pp.67-71 |
| CAS, CS (共催) |
2019-03-08 15:00 |
神奈川 | 湘南工科大学 | ［特別招待講演］車載Ethernetの最新トレンド ○帆加利知史・北島伸克（ルネサス エレクトロニクス） CAS2018-145 CS2018-113 |
自動運転、コネクテッドカーを実現するためにこれまでにない大容量車両内データを処理する手段として、車載システムへのEthe... [more] | CAS2018-145 CS2018-113 p.39 |
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