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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| EMD | 2011-05-20 15:25 |
宮城 | 東北大学 サイバーサイエンスセンター | 電磁コンタクタ用AgNi接点の電極質量変化に対する電圧の影響 ～ 開離時のみにアークを発生させた場合の諸特性 ～ ○吉田 清（日本工大）・澤 孝一郎（慶大名誉教授）・鈴木健司・渡邊勝昭・代島英樹（富士電機機器制御）  EMD2011-6 |
電源電圧がアーク継続時間、接触抵抗、アークエネルギー、および電極質量の変化量（消耗，転移）に与える影響について実験した。... [more] | EMD2011-6 pp.27-32 |
| EMD | 2011-05-20 15:50 |
宮城 | 東北大学 サイバーサイエンスセンター | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗とそのモデル(15) ～ ○和田真一・サインダー ノロブリン・越田圭治・川述真裕・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2011-7 |
著者らは，電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more] | EMD2011-7 pp.33-38 |
| EMD | 2011-01-28 15:40 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ～ タッピング・デバイスの試作(1) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・川述真裕・石塚大貴・柳 国男・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-141 |
著者らは，ハンマリング加振機構(HOM)，摺動接触機構(SCM)，および３次元加振機構(3DOM)によって外部微小振動が... [more] | EMD2010-141 pp.35-40 |
| EMD | 2011-01-28 16:05 |
東京 | 日本航空電子工業株式会社 | タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ～ タッピング・デバイスの試作(2) ～ ○越田圭治・和田真一・サインダー ノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-142 |
著者らは，専用のステージが必要なく，また，ある程度の定量性をもつ，ハンディな"タッピング・デバイス(TPD)"を開発し試... [more] | EMD2010-142 pp.41-46 |
| EMD | 2010-12-17 14:30 |
東京 | 玉川大学 | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について (14) ～ ○和田真一・サインダー ノロブリン・越田圭治・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-132 |
著者らは，ハンマリング加振機構によって電気接点における鉛直方向の微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた．本報告にお... [more] | EMD2010-132 pp.17-22 |
| EMD | 2010-10-15 14:35 |
東京 | NTT武蔵野研究開発センタ | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について(13) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-65 |
著者らは，摺動接触機構を用いて，摩擦力2.0Nおよび0.3N，摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの条件で，それぞれ... [more] | EMD2010-65 pp.13-18 |
| EMD, CPM, OME (共催) |
2010-06-25 16:20 |
東京 | 機械振興会館 地下3階研修2号室 | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について（12） ～ 和田真一・○越田圭治・園田健人・サインダー ノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-14 CPM2010-28 OME2010-33 |
著者らは，摺動接触機構を用いて，摺動力2.0Nおよび0.3N，摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの条件で，それぞれ... [more] | EMD2010-14 CPM2010-28 OME2010-33 pp.31-36 |
| EMD, CPM, OME (共催) |
2010-06-25 16:45 |
東京 | 機械振興会館 地下3階研修2号室 | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 摺動機構のモデリング（1） ～ ○和田真一・越田圭治・園田健人・サインダー ノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-15 CPM2010-29 OME2010-34 |
著者らは，摺動接触機構において，摺動力2.0N/pinおよび0.3N/pin，摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの... [more] | EMD2010-15 CPM2010-29 OME2010-34 pp.37-42 |
| EMD, R (共催) |
2010-02-19 12:35 |
大阪 | パナソニック「松心会館」 | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 加振機構のモデリング(その7) ～ ○和田真一・越田圭治・園田健人・サインダー ノロブリン・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） R2009-50 EMD2009-117 |
電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してき... [more] | R2009-50 EMD2009-117 pp.1-6 |
| NLP | 2007-01-17 16:20 |
香川 | 香川県高松市 サンポートホール高松 | 感染伝播を考慮したLotka-Volterraモデルの解の挙動について ○長木智範（慶大）・国松 昇（慶大名誉教授）・浜田 望（慶大） |
[more] | NLP2006-123 pp.69-74 |
| NLP | 2007-01-18 14:45 |
香川 | 香川県高松市 サンポートホール高松 | 電場の効果を考慮した反応拡散系における空間パターン形成の数値解析 ○小野寺正喜（慶大）・国松 昇（慶大名誉教授）・浜田 望（慶大） |
非線形現象の一つとして反応拡散系における空間パターン形成が知られており, 生物・化学を中心に様々な現象のモデリングに応用... [more] | NLP2006-135 pp.51-56 |
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