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研究会	発表日時	開催地		タイトル・著者	抄録	資料番号
TL	2019-07-27 16:10	兵庫	甲南大学平生セミナーハウス	［ポスター講演］How to resolve NPI intervention effects on WHY: Evidence from an ERP study ○Park, Myung-Kwan（Dongguk Univ.）・Chung, Daeho（Hanyang Univ.）	[more]
TL	2019-07-27 16:10	兵庫	甲南大学平生セミナーハウス	［ポスター講演］Experimental L2 Semantics/Pragmatics of Scalar Implicature: An ERP Study Euiyon Cho・○Myung-Kwan Park・Wonil Chung（Dongguk Univ.）	[more]
MI	2019-01-22 10:20	沖縄	沖縄県青年会館	高精細連続切片画像を用いた線維トラクトグラフィーによる筋腱モデリング ○時末尚悟・大竹義人・マーゼンスーフィー・福田紀生（奈良先端大）・高尾正樹・菅野伸彦（阪大）・Beom Sun Chung（亜洲大）・Jin Seo Park（東京国際大）・佐藤嘉伸（奈良先端大） MI2018-62	[more]	MI2018-62 pp.13-18
ED, SDM (共催)	2010-06-30 16:45	東京	東工大大岡山キャンパス	94-GHz Monolithic Down-Converter for FMCW Radar Sensor using Metamorphic HEMTs ○Yong-Hyun Baek・Sang-Jin Lee・Tae-Jong Baek・Seok-Gyu Choi・Min Han・Dong-Sik Ko・Jin-Koo Rhee（Dongguk Univ.） ED2010-73 SDM2010-74	[more]	ED2010-73 SDM2010-74 pp.97-100
SDM, ED (共催)	2009-06-25 11:15	海外	海雲台グランドホテル（釜山、韓国）	InP Gunn diodes with shallow-barrier Schottky contacts. ○M. R. Kim・J. K. Rhee・S. D. Lee・Y. S. Chae・S. K. Sharma・A. Kathalingam・C. W. Lee・H. J. Lim（Dongguk Univ.）・J. H. Choi・W. J. Kim（Agency for Defense Development） ED2009-75 SDM2009-70	[more]	ED2009-75 SDM2009-70 pp.113-116
SDM, ED (共催)	2008-07-11 15:20	北海道	かでる２・７（札幌）	Reduced Branch-Line Coupler Using Eight Two-Step Stubs for W-Band Application of MMIC ○Tae-Jong Baek・Sang-Jin Lee・Min Han・Jin-Koo Rhee（Dongguk Univ.） ED2008-97 SDM2008-116	[more]	ED2008-97 SDM2008-116 pp.305-308
SDM, ED (共催)	2008-07-11 13:35	北海道	かでる２・７（札幌）	W-band Single Balanced Mixer using High Performance Dot Schottky Diode ○Sang-Jin Lee・Jung-Hun Oh・Tae-Jong Baek・Mun-Kyo Lee・Dong-Sic Ko・Du-Hyun Ko・Hyun-Chang Park・Jin-Koo Rhee（Dongguk Univ.） ED2008-98 SDM2008-117	[more]	ED2008-98 SDM2008-117 pp.309-312
SDM, ED (共催)	2008-07-11 14:05	北海道	かでる２・７（札幌）	Heat Dissipation and the Nature of Negative-Differential-Resistance for GaAs Gunn Diodes ○M. R. Kim・S. D. Lee・J. S. Lee・N. S. Kwak・S. D. Kim・J. K. Rhee（Dongguk Univ.）・W. J. Kim（ADD） ED2008-100 SDM2008-119	We examined the heat dissipation and the nature of the negat... [more]	ED2008-100 SDM2008-119 pp.317-320

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