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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2011-10-21
09:50
宮城 東北大学未来研 32nmノードCMOSFETのチャネルひずみ評価
武井宗久橋口裕樹山口拓也小瀬村大亮明大)・永田晃基明大/学振)・小椋厚志明大SDM2011-104
歪技術はポストスケーリング時代のブースターテクノロジーとして実用化されている。しかし、その詳細なメカニズムおよび評価手法... [more] SDM2011-104
pp.43-48
SDM 2010-10-22
16:20
宮城 東北大学 原子スケールで平坦なSiO2/Si酸化膜界面歪の評価
服部真季明大)・小瀬村大亮明大/学振)・武井宗久永田晃基赤松弘彬富田基裕水上雄輝橋口裕樹山口拓也小椋厚志明大)・諏訪智之寺本章伸服部健雄大見忠弘東北大)・小金澤智之高輝度光科学研究センターSDM2010-170
原子スケールで平坦なSiO2/Si界面の構造や歪の状態を明らかにするために、ラマン分光法およびin-plane X線回折... [more] SDM2010-170
pp.71-75
IA, SITE
(共催)
2009-03-06
08:50
熊本 阿蘇山(熊本県) 内的セキュリティ問題に対する自動管理システムのための知識の定式化
森下壮一郎東大)・橋口博樹三島健稔埼玉大SITE2008-80 IA2008-103
内的セキュリティ問題とは,外部からの侵入などではなく内部の利用者によって引き起こされるセキュリティに関する問題を指す.特... [more] SITE2008-80 IA2008-103
pp.213-218
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