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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM (連催) (併催) [詳細] |
2020-11-18 14:00 |
ONLINE | オンライン開催 | 宇宙機用集積回路に適した薄膜BOX FDSOIプロセスで試作したリングオシレータのトータルドーズ効果の実測評価 ○吉田高士・古田 潤・小林和淑（京都工繊大）  VLD2020-30 ICD2020-50 DC2020-50 RECONF2020-49 |
宇宙で用いられる機器には半導体を用いた集積回路が必要不可欠であるが，宇宙空間で長期運用が求めら れる半導体デバイスでは宇... [more] | VLD2020-30 ICD2020-50 DC2020-50 RECONF2020-49 pp.110-114 |
| IPSJ-SLDM, IPSJ-ARC (共催) RECONF, VLD, CPSY (共催) (連催) [詳細] |
2020-01-24 15:25 |
神奈川 | 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎 | シフトレジスタによるSRAM型とフラッシュメモリ型FPGAのソフトエラー耐性の比較 ○河野雄哉・附田悠人・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2019-90 CPSY2019-88 RECONF2019-80 |
[more] | VLD2019-90 CPSY2019-88 RECONF2019-80 pp.217-222 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-07 14:10 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | FPGAとマイコンを用いたリングオシレータの超長期経年劣化の実測評価 ○中野洋希（京都工繊大）・岸田 亮（東京理科大）・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） CPM2018-95 ICD2018-56 IE2018-74 |
[more] | CPM2018-95 ICD2018-56 IE2018-74 pp.31-36 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-07 13:45 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | 遅延を抑えたスタック構造によるSOIプロセス向け耐ソフトエラーFFの提案および実測評価 ○榎原光則・山田晃大・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2018-69 DC2018-55 |
[more] | VLD2018-69 DC2018-55 pp.203-208 |
| SDM, ICD (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2018-08-07 11:30 |
北海道 | 北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 | FDSOIプロセスにおけるスタック構造を用いたNMOSおよびPMOSトランジスタのソフトエラー耐性の実測による比較 ○山田晃大・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） SDM2018-28 ICD2018-15 |
集積回路素子の微細化に伴いソフトエラーによる集積回路の信頼性低下が問題となっている．本研究では，65nm FDSOI (... [more] | SDM2018-28 ICD2018-15 pp.15-20 |
| VLD, HWS (併催) |
2018-02-28 17:20 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | FDSOIに適したスタック構造におけるソフトエラー対策手法の提案・評価と微細化による影響の評価 ○丸岡晴喜・山田晃大・榎原光則・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2017-103 |
トランジスタサイズの微細化に伴い、ソフトエラーにより集積回路の信頼性が低下している。本稿では65 nm FDSOI プロ... [more] | VLD2017-103 pp.85-90 |
| VLD, HWS (併催) |
2018-02-28 17:45 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 65 nm FDSOIプロセスのトランジスタモデルの違いによるフリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価 ○榎原光則・丸岡晴喜・山田晃大・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2017-104 |
ムーアの法則に従い, 集積回路 (LSI)が微細化することで, PCやスマートフォン といった高性能な製品を作れるよう... [more] |
VLD2017-104 pp.91-96 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-28 15:05 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | 重イオン照射測定によるFDSOIにおけるFFのソフトエラー耐性の評価 ○一二三 潤・梅原成宏・丸岡晴喜・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2016-51 DC2016-45 |
微細プロセスではレイアウト構造を変更することで様々な影響が及ぶ．本研究では 28 nm と 65 nm の FDSOI ... [more] | VLD2016-51 DC2016-45 pp.43-48 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-28 15:30 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | 40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法 ○籔内美智太郎・大島 梓・駒脇拓弥・小林和淑・岸田 亮・古田 潤（京都工繊大）・Pieter Weckx（KUL/IMEC）・Ben Kaczer（IMEC）・松本高士（東大）・小野寺秀俊（京大） VLD2016-52 DC2016-46 |
複合欠陥を考慮したランダムテレグラフノイズ (RTN: Random Telegraph Noise) モデルを用いた回... [more] | VLD2016-52 DC2016-46 pp.49-54 |
| ICD, CPSY (共催) |
2015-12-18 09:00 |
京都 | 京都工芸繊維大学 | 65nmバルクとThin BOX FD-SOIプロセスにおける冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価 ○曽根崎詠二・久保田勘人・増田政基・神田翔平・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） ICD2015-83 CPSY2015-96 |
集積回路の微細化に伴って、ソフトエラーにより信頼性の低下が顕在化している。ソフトエラーの対策技術としてTMRFFのような... [more] | ICD2015-83 CPSY2015-96 pp.69-74 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-26 11:35 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | 65nm薄膜BOX-SOIとバルクプロセスにおけるSETパルス幅の電圧依存性の評価 ○曽根崎詠二・張 魁元・古田 潤・小林和淑（京都工繊大） VLD2014-84 DC2014-38 |
近年、プロセスの微細化や高集積化により消費電力の増加が問題になっている。 低消費電力の実現には、低電圧化が最も効果的で... [more] |
VLD2014-84 DC2014-38 pp.93-97 |
| VLD | 2014-03-05 10:25 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 寄生バイポーラ効果を考慮した多ビットソフトエラーの評価 ○古田 潤（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） VLD2013-157 |
集積回路の微細化に伴い, 放射線によって記憶素子の保持データが2つ以上同時に反転する MCU (Multiple Ce... [more] |
VLD2013-157 pp.125-130 |
| ICD | 2012-12-18 11:45 |
東京 | 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール | 65 nmプロセスにおける低消費電力冗長化FF（BCDMR-ACFF）の設計と評価 ○増田政基・久保田勘人・山本亮輔（京都工繊大）・古田 潤（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） ICD2012-117 |
集積回路の微細化に伴い、ソフトエラーが問題となっている。対策として冗長化を行なうが、面積・消費電力が増大する。面積を削減... [more] | ICD2012-117 pp.109-113 |
| ICD | 2011-12-16 09:55 |
大阪 | 大阪大学会館 | MCUに強靭な耐ソフトエラーフリップフロップ ○山本亮輔・濱中 力（京都工繊大）・古田 潤（京大）・小林和淑（京都工繊大/JST）・小野寺秀俊（京大/JST） ICD2011-129 |
ソフトエラーによるLSIの信頼性の低下に対し，フリップフロップの3重化等，多様な耐ソフトエラーフリップフロップが提案され... [more] | ICD2011-129 pp.131-136 |
| ICD, SDM (共催) |
2010-08-27 14:10 |
北海道 | 札幌エルプラザ内男女共同参画センター | C-elementのソフトエラー耐性を強化した65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy (BCDMR) FF. 古田 潤（京大）・濱中 力・○小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） SDM2010-146 ICD2010-61 |
[more] | SDM2010-146 ICD2010-61 pp.121-124 |
| VLD | 2010-03-10 15:25 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | 基板バイポーラ効果によるSEUとMCUの発生機構の検討 ○濱中 力（京都工繊大）・古田 潤・牧野紘明（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大/JST） VLD2009-103 |
集積化が進むにつれ素子固有のエラー耐性は低下し，1bit が反転するSEU(Single Event Upset)，複数... [more] | VLD2009-103 pp.25-30 |
| EE | 2005-02-09 14:50 |
福岡 | 九州大学 | 昇降圧形多入力コンバータのリアクトル電流不連続領域における特性解析 ○古田 純・黒川不二雄・松尾博文（長崎大） |
太陽電池，風力発電あるいは燃料電池などのクリーンエネルギーを利用する電源装置においては，複数個の電源から適切な大きさの電... [more] | EE2004-76 pp.63-68 |
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