お知らせ 研究会の開催と会場に参加される皆様へのお願い(2022年6月開催~)
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催スケジュール
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
    [Japanese] / [English] 
研究会名/開催地/テーマ  )→
 
講演検索  検索語:  /  範囲:題目 著者 所属 抄録 キーワード )→

すべての研究会開催スケジュール  (すべての年度)

講演検索結果
 登録講演(開催プログラムが公開されているもの)  (日付・降順)
 17件中 1~17件目  /   
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2020-11-18
14:00
ONLINE オンライン開催 宇宙機用集積回路に適した薄膜BOX FDSOIプロセスで試作したリングオシレータのトータルドーズ効果の実測評価
吉田高士古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2020-30 ICD2020-50 DC2020-50 RECONF2020-49
宇宙で用いられる機器には半導体を用いた集積回路が必要不可欠であるが,宇宙空間で長期運用が求めら れる半導体デバイスでは宇... [more] VLD2020-30 ICD2020-50 DC2020-50 RECONF2020-49
pp.110-114
IPSJ-SLDM, IPSJ-ARC
(共催)
RECONF, VLD, CPSY
(共催)
(連催) [詳細]
2020-01-24
15:25
神奈川 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎 シフトレジスタによるSRAM型とフラッシュメモリ型FPGAのソフトエラー耐性の比較
河野雄哉附田悠人古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2019-90 CPSY2019-88 RECONF2019-80
 [more] VLD2019-90 CPSY2019-88 RECONF2019-80
pp.217-222
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-07
14:10
広島 サテライトキャンパスひろしま FPGAとマイコンを用いたリングオシレータの超長期経年劣化の実測評価
中野洋希京都工繊大)・岸田 亮東京理科大)・古田 潤小林和淑京都工繊大CPM2018-95 ICD2018-56 IE2018-74
 [more] CPM2018-95 ICD2018-56 IE2018-74
pp.31-36
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-07
13:45
広島 サテライトキャンパスひろしま 遅延を抑えたスタック構造によるSOIプロセス向け耐ソフトエラーFFの提案および実測評価
榎原光則山田晃大古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2018-69 DC2018-55
 [more] VLD2018-69 DC2018-55
pp.203-208
SDM, ICD
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2018-08-07
11:30
北海道 北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 FDSOIプロセスにおけるスタック構造を用いたNMOSおよびPMOSトランジスタのソフトエラー耐性の実測による比較
山田晃大古田 潤小林和淑京都工繊大SDM2018-28 ICD2018-15
集積回路素子の微細化に伴いソフトエラーによる集積回路の信頼性低下が問題となっている.本研究では,65nm FDSOI (... [more] SDM2018-28 ICD2018-15
pp.15-20
VLD, HWS
(併催)
2018-02-28
17:20
沖縄 沖縄県青年会館 FDSOIに適したスタック構造におけるソフトエラー対策手法の提案・評価と微細化による影響の評価
丸岡晴喜山田晃大榎原光則古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2017-103
トランジスタサイズの微細化に伴い、ソフトエラーにより集積回路の信頼性が低下している。本稿では65 nm FDSOI プロ... [more] VLD2017-103
pp.85-90
VLD, HWS
(併催)
2018-02-28
17:45
沖縄 沖縄県青年会館 65 nm FDSOIプロセスのトランジスタモデルの違いによるフリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価
榎原光則丸岡晴喜山田晃大古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2017-104
ムーアの法則に従い, 集積回路 (LSI)が微細化することで, PCやスマートフォン
といった高性能な製品を作れるよう... [more]
VLD2017-104
pp.91-96
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
15:05
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス 重イオン照射測定によるFDSOIにおけるFFのソフトエラー耐性の評価
一二三 潤梅原成宏丸岡晴喜古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2016-51 DC2016-45
微細プロセスではレイアウト構造を変更することで様々な影響が及ぶ.本研究では 28 nm と 65 nm の FDSOI ... [more] VLD2016-51 DC2016-45
pp.43-48
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
15:30
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス 40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法
籔内美智太郎大島 梓駒脇拓弥小林和淑岸田 亮古田 潤京都工繊大)・Pieter WeckxKUL/IMEC)・Ben KaczerIMEC)・松本高士東大)・小野寺秀俊京大VLD2016-52 DC2016-46
複合欠陥を考慮したランダムテレグラフノイズ (RTN: Random Telegraph Noise) モデルを用いた回... [more] VLD2016-52 DC2016-46
pp.49-54
ICD, CPSY
(共催)
2015-12-18
09:00
京都 京都工芸繊維大学 65nmバルクとThin BOX FD-SOIプロセスにおける冗長化フリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価
曽根崎詠二久保田勘人増田政基神田翔平古田 潤小林和淑京都工繊大ICD2015-83 CPSY2015-96
集積回路の微細化に伴って、ソフトエラーにより信頼性の低下が顕在化している。ソフトエラーの対策技術としてTMRFFのような... [more] ICD2015-83 CPSY2015-96
pp.69-74
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2014-11-26
11:35
大分 ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) 65nm薄膜BOX-SOIとバルクプロセスにおけるSETパルス幅の電圧依存性の評価
曽根崎詠二張 魁元古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2014-84 DC2014-38
近年、プロセスの微細化や高集積化により消費電力の増加が問題になっている。
低消費電力の実現には、低電圧化が最も効果的で... [more]
VLD2014-84 DC2014-38
pp.93-97
VLD 2014-03-05
10:25
沖縄 沖縄県青年会館 寄生バイポーラ効果を考慮した多ビットソフトエラーの評価
古田 潤京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大VLD2013-157
集積回路の微細化に伴い, 放射線によって記憶素子の保持データが2つ以上同時に反転する
MCU (Multiple Ce... [more]
VLD2013-157
pp.125-130
ICD 2012-12-18
11:45
東京 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール 65 nmプロセスにおける低消費電力冗長化FF(BCDMR-ACFF)の設計と評価
増田政基久保田勘人山本亮輔京都工繊大)・古田 潤京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大ICD2012-117
集積回路の微細化に伴い、ソフトエラーが問題となっている。対策として冗長化を行なうが、面積・消費電力が増大する。面積を削減... [more] ICD2012-117
pp.109-113
ICD 2011-12-16
09:55
大阪 大阪大学会館 MCUに強靭な耐ソフトエラーフリップフロップ
山本亮輔濱中 力京都工繊大)・古田 潤京大)・小林和淑京都工繊大/JST)・小野寺秀俊京大/JSTICD2011-129
ソフトエラーによるLSIの信頼性の低下に対し,フリップフロップの3重化等,多様な耐ソフトエラーフリップフロップが提案され... [more] ICD2011-129
pp.131-136
ICD, SDM
(共催)
2010-08-27
14:10
北海道 札幌エルプラザ内男女共同参画センター C-elementのソフトエラー耐性を強化した65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy (BCDMR) FF.
古田 潤京大)・濱中 力・○小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大SDM2010-146 ICD2010-61
 [more] SDM2010-146 ICD2010-61
pp.121-124
VLD 2010-03-10
15:25
沖縄 沖縄県男女共同参画センター 基板バイポーラ効果によるSEUとMCUの発生機構の検討
濱中 力京都工繊大)・古田 潤牧野紘明京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大/JSTVLD2009-103
集積化が進むにつれ素子固有のエラー耐性は低下し,1bit が反転するSEU(Single Event Upset),複数... [more] VLD2009-103
pp.25-30
EE 2005-02-09
14:50
福岡 九州大学 昇降圧形多入力コンバータのリアクトル電流不連続領域における特性解析
古田 純黒川不二雄松尾博文長崎大
太陽電池,風力発電あるいは燃料電池などのクリーンエネルギーを利用する電源装置においては,複数個の電源から適切な大きさの電... [more] EE2004-76
pp.63-68
 17件中 1~17件目  /   
ダウンロード書式の初期値を指定してください NEW!!
テキスト形式 pLaTeX形式 CSV形式 BibTeX形式
著作権について : 以上の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会