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VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-28
14:10
鹿児島 鹿児島県文化センター BASTにおけるテストデータ量削減のためのインバータブロック構成法
田中まりか山崎紘史細川利典日大)・吉村正義九大)・新井雅之日大)・中尾教伸読売理工医療福祉専門学校VLD2013-85 DC2013-51
LSIのテスト品質を維持しながら,テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして,組込み自己テストと自動テスト生成を組み... [more] VLD2013-85 DC2013-51
pp.171-176
DC 2009-06-19
10:45
東京 機械振興会館 SoC向けMBISTにおける歩留りと面積のトレードオフに関する一考察
新井雅之遠藤辰朗岩崎一彦首都大東京)・中尾教伸鈴木 巌ルネサステクノロジDC2009-11
本研究では,メモリBIST回路の面積削減手法,および歩留りと面積を考慮したSRAMへの冗長割り当てアルゴリズムの有効性に... [more] DC2009-11
pp.7-12
DC 2009-06-19
15:35
東京 機械振興会館 システマティック故障を検出するための故障診断技術と事例
山元廣志和田弘樹小串 亨中尾教伸ルネサステクノロジDC2009-17
半導体製造プロセスの微細化や複雑化に伴い,故障モードが多様となっており,製品の歩留り向上・品質確保のためには,その製品で... [more] DC2009-17
p.35
DC 2008-06-20
16:40
東京 機械振興会館 メモリBISTにおけるハードウェアオーバヘッドおよび故障位置特定に関する一考察
新井雅之大沢健太郎岩崎一彦首都大東京)・中尾教伸ルネサステクノロジDC2008-18
 [more] DC2008-18
pp.41-46
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