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すべての研究会開催スケジュール (検索条件: 最近10年)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, RECONF (共催) |
2025-01-16 09:25 |
神奈川 | キオクシア 横浜テクノロジーキャンパス Flagship棟 (神奈川県, オンライン) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
能動学習とハイパーパラメータの適応的更新を用いたイベント単位で正確なビット反転識別手法 ○安田隆一・高見一総・五味唯美（京大）・竹内浩造（JAXA）・橋本昌宜（京大）  VLD2024-77 RECONF2024-107 |
ソフトエラーレート(SER)の正確な見積もりには，放射線入射イベント毎にビット反転の有無を高精度に判定する必要があり，T... [more] | VLD2024-77 RECONF2024-107 pp.7-12 |
| ICD | 2023-04-10 11:25 |
神奈川 | 川崎市産業振興会館10階第４会議室 (神奈川県, オンライン) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価 ○五味唯美・高見一総（京大）・水野るり惠（東大）・新倉 潤（理研）・Yifan DENG・川瀬頒一郎・渡辺幸信（九大）・安部晋一郎（原子力機構）・廖 望（東大）・反保元伸・梅垣いづみ・竹下聡史・下村浩一郎・三宅康博（高エネルギー加速器研究機構/J-PARCセンター）・橋本昌宜（京大） ICD2023-3 |
半導体プロセス微細化に伴い，ミューオン起因ソフトエラーの影響増加が示唆されている．しかし，MOSFETの構造変化によるソ... [more] | ICD2023-3 p.8 |
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